[实用新型]工程化单晶体取向的测量装置

摘要

本实用新型公开了一种工程化单晶体取向的测量装置，包括扫描系统和转盘，其中转盘，位于扫描系统的下方，转盘在其所在平面内转动，转盘的旋转轴与转盘垂直，转盘带动试样转动，转盘的旋转轴与试样的待测面交于O点；扫描系统包括：回转架和设于回转架上的X射线发射装置和X射线探测装置，回转架绕其回转轴进行转动，回转轴过O点且平行于转盘所在平面；回转架的回转轴位于X射线发射装置和X射线探测装置所在平面；扫描过程中，X射线发射装置扫描的入射点始终为O点；在衍射方向探测到的X射线衍射峰最强时对应的回转架转动的角度和试样转动的角度，确定试样内待测晶面的法线方向即为单晶体试样的该晶面的取向。本实用新型成本低，易于操作。

主权项

工程化单晶体取向的测量装置，其特征在于，包括扫描系统和转盘，其中转盘，位于扫描系统的下方，所述转盘在其所在平面内转动，所述转盘的旋转轴与转盘垂直，转盘的旋转轴与转盘相交于O＇点，转盘带动置于O＇点的试样转动；扫描系统包括：回转架，绕其回转轴进行转动，所述回转轴位于试样的待测面所在平面，且平行于转盘所在平面，且回转轴与转盘的旋转轴相交于O点；X射线发射装置，发射X射线，对试样进行扫描，所述X射线发射装置设于回转架上；X射线探测装置，接收经试样衍射的X射线，X射线探测装置设于回转架上；回转架的回转轴位于X射线发射装置和X射线探测装置所在平面；扫描过程中，所述回转架沿回转轴在一定范围内转动，所述X射线发射装置和X射线探测装置随所述回转架在一定范围内摆动，所述试样在转盘的带动下转动；其中，回转架每转动一单位角度所述试样转动360°；得到在衍射方向探测到的X射线衍射峰最强时对应的回转架转动的角度和试样转动的角度，根据布拉格定律确定试样内待测晶面的法线方向，所述法线方向即为单晶体试样的该晶面的取向。