[实用新型]工程化单晶体取向的测量装置

权利要求书

1.工程化单晶体取向的测量装置，其特征在于，包括扫描系统和转盘，其中

转盘，位于扫描系统的下方，所述转盘在其所在平面内转动，所述转盘的旋转轴与转盘垂直，转盘的旋转轴与转盘相交于O＇点，转盘带动置于O＇点的试样转动；

扫描系统包括：

回转架，绕其回转轴进行转动，所述回转轴位于试样的待测面所在平面，且平行于转盘所在平面，且回转轴与转盘的旋转轴相交于O点；

X射线发射装置，发射X射线，对试样进行扫描，所述X射线发射装置设于回转架上；

X射线探测装置，接收经试样衍射的X射线，X射线探测装置设于回转架上；

回转架的回转轴位于X射线发射装置和X射线探测装置所在平面；

扫描过程中，所述回转架沿回转轴在一定范围内转动，所述X射线发射装置和X射线探测装置随所述回转架在一定范围内摆动，所述试样在转盘的带动下转动；其中，回转架每转动一单位角度所述试样转动360°；

得到在衍射方向探测到的X射线衍射峰最强时对应的回转架转动的角度和试样转动的角度，根据布拉格定律确定试样内待测晶面的法线方向，所述法线方向即为单晶体试样的该晶面的取向。

2.根据权利要求1所述的工程化单晶体取向的测量装置，其特征在于，所述回转架呈半圆弧形，回转架的对称轴过O点，X射线发射装置和X射线探测装置相对于回转架的对称轴对称设置在回转架上。

3.根据权利要求1所述的工程化单晶体取向的测量装置，其特征在于，所述回转架上具有第一圆弧形轨道，所述X射线发射装置和X射线探测装置与所述第一圆弧形轨道相配合并可沿所述第一圆弧形轨道移动。

4.根据权利要求1所述的工程化单晶体取向的测量装置，其特征在于，所述扫描系统还包括回转导向架，所述回转导向架具有第二圆弧形轨道，所述回转架通过导向件与回转导向架连接，所述导向件装配在所述第二圆弧形轨道上，所述导向件可沿所述第二圆弧形轨道滑动。

5.根据权利要求1所述的工程化单晶体取向的测量装置，其特征在于，所述回转导向架呈半圆弧形，回转架的对称轴过O点。

6.根据权利要求1所述的工程化单晶体取向的测量装置，其特征在于，所述回转架的转动范围为0°～65°。