[实用新型]一种金属化薄膜电阻测试支架有效
| 申请号： | 201520121586.7 | 申请日： | 2015-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN204422655U | 公开（公告）日： | 2015-06-24 |
| 发明（设计）人： | 张世铎 | 申请（专利权）人： | 黄山申格电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 无 | 代理人： | 无 |
| 地址： | 245000 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种金属化薄膜电阻测试支架，包括一支撑底座；两个分别连接电阻检测设备的正负极检测线并用于接触金属化薄膜样品的检测头；一固定设置于所述支撑底座上用于夹持金属化薄膜样品的夹持片；一固定设置于所述支撑底座上用于夹持金属化薄膜样品且用于固定所述检测头的固定夹持片；一活动设置于所述支撑底座上用于固定所述检测头的固定片；所述夹持片、所述固定夹持片和所述固定片均为长方形且相互平行，所述固定夹持片和所述固定片在长度方向上都设置有镂空的检测滑槽，所述检测头位于所述检测滑槽内。本实用新型无需多次改变金属化薄膜的夹持方式，即可完成金属化薄膜多个位置之间的电阻特性的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 金属化 薄膜 电阻 测试 支架 | ||
【主权项】：
一种金属化薄膜电阻测试支架，其特征是，包括：一用于平托金属化薄膜样品的支撑底座（1）；用于接触金属化薄膜样品的检测头（2），所述检测头（2）为两个且分别连接电阻检测设备的正负极检测线；一固定设置于所述支撑底座（1）上用于夹持金属化薄膜样品的夹持片（3）；一固定设置于所述支撑底座（1）上用于夹持金属化薄膜样品且用于固定所述检测头（2）的固定夹持片（4）；一活动设置于所述支撑底座（1）上用于固定所述检测头（2）的固定片（5），所述固定片（5）位于所述夹持片（3）和所述固定夹持片（4）之间；所述夹持片（3）、所述固定夹持片（4）和所述固定片（5）均为长方形且相互平行，所述固定夹持片（4）和所述固定片（5）在长度方向上都设置有镂空的检测滑槽（6），所述检测头（2）位于所述检测滑槽（6）内。
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