[实用新型]一种金属化薄膜电阻测试支架有效

专利信息
申请号: 201520121586.7 申请日: 2015-03-02
公开(公告)号: CN204422655U 公开(公告)日: 2015-06-24
发明(设计)人: 张世铎 申请(专利权)人: 黄山申格电子科技有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 代理人:
地址: 245000 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 金属化 薄膜 电阻 测试 支架
【权利要求书】:

1.一种金属化薄膜电阻测试支架,其特征是,包括:

一用于平托金属化薄膜样品的支撑底座(1);

用于接触金属化薄膜样品的检测头(2),所述检测头(2)为两个且分别连接电阻检测设备的正负极检测线;

一固定设置于所述支撑底座(1)上用于夹持金属化薄膜样品的夹持片(3);

一固定设置于所述支撑底座(1)上用于夹持金属化薄膜样品且用于固定所述检测头(2)的固定夹持片(4);

一活动设置于所述支撑底座(1)上用于固定所述检测头(2)的固定片(5),所述固定片(5)位于所述夹持片(3)和所述固定夹持片(4)之间;

所述夹持片(3)、所述固定夹持片(4)和所述固定片(5)均为长方形且相互平行,所述固定夹持片(4)和所述固定片(5)在长度方向上都设置有镂空的检测滑槽(6),所述检测头(2)位于所述检测滑槽(6)内。

2.如权利要求1所述的一种金属化薄膜电阻测试支架,其特征是,所述夹持片(3)、所述固定夹持片(4)的两端均通过安装螺栓(7)固定连接所述支撑底座(1);所述支撑底座(1)上设置有垂直于所述固定片(5)的凸起滑道(8),所述凸起滑道(8)为两个且分别位于所述固定片(5)的两端,所述固定片(5)的两端底部设置有配合所述凸起滑道(8)的限位凹槽(51)。

3.如权利要求2所述的一种金属化薄膜电阻测试支架,其特征是,所述夹持片(3)、所述固定夹持片(4)和所述固定片(5)均为金属制成,且所述夹持片(3)和所述固定夹持片(4)的底面设置有第一橡胶垫(31),所述支撑底座(1)的顶面设置有第二橡胶垫(11),且所述夹持片(3)和所述固定夹持片(4)的顶面均设置有配合所述安装螺栓(7)的安装导套(32)。

4.如权利要求3所述的一种金属化薄膜电阻测试支架,其特征是,所述检测头(2)包括球形触头(21)、导电柱(22)、以及包封所述球形触头(21)和所述导电柱(22)的绝缘块(23),所述导电柱(22)下端连接所述球形触头(21),所述导电柱(22)上端连接电阻检测设备的正负极检测线。

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