[发明专利]绝缘栅双极晶体管的背面场栏的低温氧化层制作方法有效
| 申请号: | 201511020961.X | 申请日: | 2015-12-30 |
| 公开(公告)号: | CN106935498B | 公开(公告)日: | 2019-09-13 |
| 发明(设计)人: | 陈冠宇;陈美玲 | 申请(专利权)人: | 节能元件控股有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/331 | 分类号: | H01L21/331;H01L29/739;H01L29/10 |
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;祁建国 |
| 地址: | 中国香港柴湾利*** | 国省代码: | 中国香港;81 |
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| 摘要: | 一种绝缘栅双极晶体管的背面场栏的低温氧化层制作方法,先在一第一导电型基板的一正面制作正面元件及正面金属层。于第一导电型基板的背面制作多重凹槽结构,于每一凹槽外侧具有一第一导电型杂质植入层图案,于多重凹槽结构底部具有一第一导电型杂质植入层。以沉积方式于该多重凹槽结构内填入多层第一导电型多晶硅层,且这些第一导电型多晶硅层分别与这些第一导电型杂质植入层图案对齐。于第一导电型基板底部表面植入一第二导电型杂质层。以激光退火工艺对所得结构的各杂质层退火,以制作多个场截止层。 | ||
| 搜索关键词: | 绝缘 双极晶体管 背面 低温 氧化 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种绝缘栅双极晶体管的背面场栏的低温氧化层制作方法,其特征在于,包含下列步骤:(a)提供一第一导电型基板,并在该第一导电型基板的一正面制作绝缘栅双极晶体管的正面元件及正面金属层;(b)于第一导电型基板的背面制作多重凹槽结构,该多重凹槽结构具有多个凹槽,且这些凹槽的宽度为沿深度方向渐缩,每一该凹槽外侧具有一第一导电型杂质植入层图案,于该多重凹槽结构底部具有一最底层第一导电型杂质植入层;(c)以沉积方式于该多重凹槽结构内填入多层第一导电型非晶硅层,且这些第一导电型非晶硅层分别与这些第一导电型杂质植入层图案对齐;(d)于第一导电型基板底部表面植入一第二导电型杂质植入层或沉积一第二导电型非晶硅层;(e)以激光退火工艺对所得结构的各非晶硅层退火,以形成多层场截止层;(f)于第一导电型基板底部表面制作一集极金属层;其中,步骤(b)更包含(b1)界定一第一凹槽及于该第一凹槽底部布植一第一导电型杂质植入层;(b2)于该第一导电型基板的背面制作具有侧壁的第一低温沉积氧化图案,且此侧壁部分与第一导电型杂质植入层重叠;(b3)以该第一低温沉积氧化图案为蚀刻掩膜,移除未被该第一低温沉积氧化图案遮盖的第一导电型杂质植入层部分,以形成一第一导电型杂质植入层图案;(b4)于所得结构制作有侧壁的第二低温沉积氧化图案,且该第二低温沉积氧化图案较该第一低温沉积氧化图案深;(b5)在该第二低温沉积氧化图案之下布植另一第一导电型杂质植入层,且以该第二低温沉积氧化图案为蚀刻掩膜移除未被该第二低温沉积氧化图案遮蔽的该另一第一导电型杂质植入层,以形成另一第一导电型杂质植入层图案;(b6)重复前述步骤(b4)及(b5)至所需的多层第一导电型杂质植入层图案完成为止。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





