[发明专利]彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法有效
| 申请号： | 201510946930.0 | 申请日： | 2015-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN105572924B | 公开（公告）日： | 2018-11-06 |
| 发明（设计）人： | 巫景铭 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1335 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，所述方法包括：切割彩色层以形成宫格图形，形成位于所述宫格图形区域内的彩色层待测区；沿所述宫格图形的对角线方向扫刷所述彩色层待测区；测量所述彩色层待测区的透射比，得到第一吸光度；黏附胶带至所述彩色层待测区；撕去所述胶带；再次测量所述彩色层待测区的透射比，得到第二吸光度；及通过所述第一吸光度和所述第二吸光度计算出所述彩色层待测区的脱落率。本发明所提供的所述彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，可以准确评价所述彩膜基板的彩色层的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 彩膜基板 彩色 脱落 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，其特征在于，所述方法包括：切割彩色层以形成宫格图形，形成位于所述宫格图形区域内的彩色层待测区；沿所述宫格图形的对角线方向扫刷所述彩色层待测区；测量所述彩色层待测区的透射比，得到第一吸光度；黏附胶带至所述彩色层待测区；撕去所述胶带；再次测量所述彩色层待测区的透射比，得到第二吸光度；及通过所述第一吸光度和所述第二吸光度计算出所述彩色层待测区的脱落率。
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