[发明专利]彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法

说明书

本发明公开一种彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，所述方法包括：切割彩色层以形成宫格图形，形成位于所述宫格图形区域内的彩色层待测区；沿所述宫格图形的对角线方向扫刷所述彩色层待测区；测量所述彩色层待测区的透射比，得到第一吸光度；黏附胶带至所述彩色层待测区；撕去所述胶带；再次测量所述彩色层待测区的透射比，得到第二吸光度；及通过所述第一吸光度和所述第二吸光度计算出所述彩色层待测区的脱落率。本发明所提供的所述彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，可以准确评价所述彩膜基板的彩色层的可靠性。

技术领域

本发明涉及彩膜基板技术领域，尤其涉及一种彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法。

背景技术

TFT-LCD(Thin film transistor-liquid crystal display：薄膜晶体管-液晶显示器)是目前唯一在亮度、对比度、功耗、寿命、体积和重量等综合性能上全面赶上和超过CRT(Cathode Ray Tube，阴极射线管)的显示器件，它的性能优良、大规模生产特性好，自动化程度高，发展空间广阔，迅速成为目前的主流产品。由array基板(薄膜晶体管阵列基板)，CF基板(彩色滤光阵列基板，又称彩膜基板)和夹在两基板间的液晶构成Cell(液晶盒)液晶面板。Array基板与CF基板是经由化学或物理的方法成膜，然后曝光，显影，蚀刻得到设计所需的阵列基板。

CF基板上彩色层(彩膜或者色阻)在玻璃基板上的附着力是影响液晶面板可靠性因素之一。目前并无液晶面板中彩色滤光片上彩色层在玻璃基板上的附着力的标准测试方法，部分实验室参考《GB/T 9286-1998色漆和清漆漆膜的划格试验》进行划格实验，通过观察切割区域的切割影响严重性判断彩色层在玻璃基板上的附着力的级别。该方法虽比较直观，但无法具体量化脱落程度，且只通过普通放大镜简单观察即判断等级过于粗糙，易造成错判。再者，彩色滤光片的品质是影响TFT-LCD成像品质重要因素之一，故彩色滤光片对彩色层在玻璃基板上的附着力要求较高，按上述方法难以测试和界定和彩膜在玻璃基板上附着力的优劣，也即难以测试彩膜基板上彩色层的脱落率。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，以准确评价彩色层的可靠性。

为了实现上述目的，本发明实施方式采用如下技术方案：

提供一种彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，所述方法包括：

切割彩色层以形成宫格图形，形成位于所述宫格图形区域内的彩色层待测区；

沿所述宫格图形的对角线方向扫刷所述彩色层待测区；

测量所述彩色层待测区的透射比，得到第一吸光度；

黏附胶带至所述彩色层待测区；

撕去所述胶带；

再次测量所述彩色层待测区的透射比，得到第二吸光度；及

通过所述第一吸光度和所述第二吸光度计算出所述彩色层待测区的脱落率。

优选的，所述“切割所述彩色层以形成宫格图形”包括：

放置彩膜基板至刚性平台上，使所述彩膜基板的彩色层朝上；及

使用百格刀依次沿第一方向和第二方向切割所述彩色层，以形成所述宫格图形，所述第一方向平行于所述彩色层内RGB排列方向，所述第二方向垂直于所述第一方向。

优选的，所述百格刀沿所述第一方向和所述第二方向切割所述彩色层的过程中，所述百格刀匀速运动，并且切割时所述百格刀的刀刃垂直于所述彩色层，切割深度划透所述彩色层。

优选的，所述“沿所述宫格图形的对角线方向扫刷所述彩色层待测区”包括：