[发明专利]彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法

权利要求书

1.一种彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

切割彩色层以形成宫格图形，形成位于所述宫格图形区域内的彩色层待测区；

沿所述宫格图形的对角线方向扫刷所述彩色层待测区；

测量所述彩色层待测区的透射比，得到第一吸光度；

黏附胶带至所述彩色层待测区；

撕去所述胶带；

再次测量所述彩色层待测区的透射比，得到第二吸光度；及

通过所述第一吸光度和所述第二吸光度计算出所述彩色层待测区的脱落率。

2.如权利要求1所述的彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，其特征在于，所述“切割彩色层以形成宫格图形”包括：

放置彩膜基板至刚性平台上，使所述彩膜基板的彩色层朝上；及

使用百格刀依次沿第一方向和第二方向切割所述彩色层，以形成所述宫格图形，所述第一方向平行于所述彩色层内RGB排列方向，所述第二方向垂直于所述第一方向。

3.如权利要求2所述的彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，其特征在于，所述百格刀沿所述第一方向和所述第二方向切割所述彩色层的过程中，所述百格刀匀速运动，并且切割时所述百格刀的刀刃垂直于所述彩色层，切割深度划透所述彩色层。

4.如权利要求1所述的彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，其特征在于，所述“沿所述宫格图形的对角线方向扫刷所述彩色层待测区”包括：

沿所述宫格图形的第一条对角线方向，用软毛刷朝一侧轻扫所述彩色层待测区，再朝另一侧轻扫所述彩色层待测区；及

沿所述宫格图形的另一条对角线方向，用软毛刷朝一侧轻扫所述彩色层待测区，再朝另一侧轻扫所述彩色层待测区。

5.如权利要求1所述的彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，其特征在于，所述“测量所述彩色层待测区的透射比，得到第一吸光度”包括：

在可见光光度计中，采用可见光光束间隔扫描所述彩色层待测区；及

采集所述彩色层待测区的透射比测试结果，并转化为第一吸光度。

6.如权利要求5所述的彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，其特征在于，所述光束的波长范围为380nm至780nm，所述间隔扫描的扫描间隔为1nm、5nm或10nm中的一个。

7.如权利要求1所述的彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，其特征在于，所述“黏附胶带至所述彩色层待测区”包括：

以均匀的速度从胶带卷上取下一段胶带；

放置所述胶带的中心至所述彩色层待测区的上方，所述胶带的长度方向平行于所述宫格图形的其中一组切割线的方向；及

压平所述胶带，使所述胶带与所述彩色层待测区接触良好。

8.如权利要求7所述的彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，其特征在于，所述胶带的宽度大于等于所述宫格图形的边长的两倍，所述胶带的长度大于等于所述宫格图形的边长的三倍。

9.如权利要求1所述的彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，其特征在于，所述“撕去所述胶带”包括：

沿第三方向在规定时间内平稳撕去所述胶带，所述第三方向与所述彩色层所在平面形成55°至65°夹角，所述规定时间在0.5秒至1秒范围内。

10.如权利要求1所述的彩膜基板的彩色层脱落率的测试方法，其特征在于，所述第一吸光度为A1，所述第二吸光度为A2，所述脱落率为(A1-A2)/A1*100％。