[发明专利]光纤检查显微镜与功率测量系统、光纤检查尖端及其使用方法在审

专利信息
申请号: 201510898503.X 申请日: 2015-12-08
公开(公告)号: CN105700123A 公开(公告)日: 2016-06-22
发明(设计)人: R·巴里博 申请(专利权)人: 爱斯福公司
主分类号: G02B21/00 分类号: G02B21/00
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 李丙林;曹桓
地址: 加拿大*** 国省代码: 加拿大;CA
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摘要: 发明涉及用于检查光纤在成角度抛光的连接器处的端面的光纤检查显微镜与功率测量系统,其通常具有:配合接口,该配合接口用于接纳该成角度抛光的连接器,该端面使在端面处离开该光纤的光的平均传播方向相对于该系统的成像路径倾斜;聚光元件,该聚光元件有待被光学耦合到该端面并且被配置成用于接收该倾斜光且将该倾斜光朝向该光纤检查显微镜系统的该成像路径重新定向;以及功率检测组件,该功率检测组件被光学耦合到该聚光元件,该功率检测组件被配置成用于检测与由该会聚元件重新定向的该倾斜光相关联的光学功率。
搜索关键词: 光纤 检查 显微镜 功率 测量 系统 尖端 及其 使用方法
【主权项】:
一种用于检查光纤在成角度抛光的连接器处的端面的光纤检查显微镜与功率测量系统,该光纤的该端面相对于该光纤的一条传播轴线以一个非直角抛光,该光纤检查显微镜与功率测量系统包括:一个壳体结构;一个配合接口,该配合接口被安装于该壳体结构上并且被配置成用于在一个检查位置中接纳该成角度抛光的连接器以便检查该端面,该端面使从其离开的光的平均传播方向相对于该光纤检查显微镜与功率测量系统的一个成像路径倾斜;一个聚光元件,该聚光元件被封闭在该壳体结构中,该聚光元件的直径以及该聚光元件与该配合接口之间的距离被适配成用于从该光纤的该端面接收该倾斜光,当该成角度抛光的连接器处于该检查位置中时,该聚光元件将该倾斜光朝向该光纤检查显微镜与功率测量系统的该成像路径重新定向;以及一个功率检测组件,该功率检测组件被封闭在该壳体结构中并且被光学耦合到该聚光元件以在使用期间检测与由该聚光元件重新定向的该倾斜光相关联的一个光学功率值。
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