[发明专利]光纤检查显微镜与功率测量系统、光纤检查尖端及其使用方法

说明书

本发明涉及用于检查光纤在成角度抛光的连接器处的端面的光纤检查显微镜与功率测量系统，其通常具有：配合接口，该配合接口用于接纳该成角度抛光的连接器，该端面使在端面处离开该光纤的光的平均传播方向相对于该系统的成像路径倾斜；聚光元件，该聚光元件有待被光学耦合到该端面并且被配置成用于接收该倾斜光且将该倾斜光朝向该光纤检查显微镜系统的该成像路径重新定向；以及功率检测组件，该功率检测组件被光学耦合到该聚光元件，该功率检测组件被配置成用于检测与由该会聚元件重新定向的该倾斜光相关联的光学功率。

相关申请的交叉引用

本专利申请要求于2014年12月15日提交的序列号为62/091,872的美国临时申请以及于2015年4月28日提交的序列号为62/154,018的美国临时申请的优先权，这些申请的内容通过引用结合在此。

技术领域

本发明总体上涉及光纤连接器检查，并且更具体地涉及具有集成光学功率测量和成像能力的光纤连接器检查探针。

背景技术

光纤连接器的端面的质量及清洁表示实现光通信网络的充分的系统性能的重要因素。实际上，对光纤连接器的配合表面的任何污染或损坏都可能严重地降低信号完整性。通常在安装光通信网络时或在维护光通信网络期间采用光纤连接器检查显微镜来检查光纤连接器的端面，以便验证光纤连接的质量。

一些光纤检查显微镜探针还包含允许操作者测量离开光纤连接器的光的光学功率的单独功率检测端口。因此需要操作者将受检查的光纤连接器顺序地连接到检查显微镜端口和功率检测端口。当然，光纤连接器的额外处理增加了连接器端面遭受潜在污染的风险。

授予弗洛拉(Flora)等人的美国专利US 8,908,167提出了一种包括集成光学功率测量组件的光纤检查显微镜配置，从而使得可以使用相同端口来进行目视检查和功率测量。然而，弗洛拉等人仅解决了对离开垂直抛光的光纤连接器的光进行光学功率测量，对于垂直抛光的光纤连接器，已知光是沿着连接器端面的法线离开的。

尽管现有的光纤检查显微镜探针在一定程度上是令人满意的，但仍然存在改进空间，尤其是在提供被配置成用于检查成角度抛光的光纤连接器的具有集成光学功率测量的光纤检查显微镜系统方面。

发明内容

因此，提供了一种有待连接至光纤检查显微镜与功率测量探针(称为“光纤检查探针”)的可释放光纤检查尖端、光纤检查显微镜与功率测量系统(称为“光纤检查系统”)以及用于对成角度抛光的连接器的光纤端面进行目视检查并且对在该光纤端面处离开该光纤连接器的光的光学功率进行测量的方法。

已知的是，离开成角度抛光的连接器的光的平均传播方向相对于光纤端面的法线倾斜。还已知的是，对于光纤连接器的合适的目视检查，该连接器应该被理想地定向，从而使得受检查的端面垂直于该光纤检查探针的成像路径。因此，离开成角度抛光的连接器的光的平均传播方向相对于该成像路径倾斜，并且如果不这样对检查探针的成像路径进行定向，那么大部分离开的光不可能到达光纤检查探针的物镜。所提供的光纤检查尖端具有被配置成用于接收离开光纤连接器的端面的光的聚光元件。要做到这一点，该聚光元件与该光纤的该端面间隔开以与该聚光元件的透镜直径进行协作来增加该检查显微镜的数值孔径，这允许接收至少大部分倾斜光以便将倾斜光朝向检查尖端所被安装于的该光纤检查探针的成像路径重新定向。这种重新定向使得该光纤检查系统既能够对成角度抛光的连接器的端面进行成像又能够检测与该倾斜光相关联的光学功率值。更具体来说，所述重新定向允许该倾斜光由包括功率检测组件和光纤端面成像组件的光纤检查探针的物镜接收。