[发明专利]光纤检查显微镜与功率测量系统、光纤检查尖端及其使用方法

权利要求书

1.一种用于检查光纤在成角度抛光的连接器处的端面的光纤检查显微镜与功率测量系统，该光纤的该端面相对于该光纤的一条传播轴线以一个非直角抛光，该光纤检查显微镜与功率测量系统包括：

一个壳体结构；

一个配合接口，该配合接口被安装于该壳体结构上并且被配置成用于在一个检查位置中接纳该成角度抛光的连接器以便检查该端面，该端面使从其离开的光的平均传播方向相对于该光纤检查显微镜与功率测量系统的一个成像路径倾斜；

一个光纤端面成像组件，被封闭在所述壳体结构中并且包括一个物镜；

一个聚光元件，该聚光元件被封闭在该壳体结构中，该聚光元件的直径以及该聚光元件与该端面之间的距离被适配成用于从该光纤的该端面接收该倾斜光，当该成角度抛光的连接器处于该检查位置中时，该聚光元件将该倾斜光朝向该光纤检查显微镜与功率测量系统的该成像路径重新定向并且该聚光元件将该倾斜光重新定向到所述光纤端面成像组件的所述物镜中，其中在沿着该成像路径在该聚光元件与该端面之间的距离值介于5mm与8mm之间，并且其中该聚光元件具有大于2mm的透镜直径；以及

一个功率检测组件，该功率检测组件被封闭在该壳体结构中并且被光学耦合到该物镜以在使用期间检测与由该聚光元件重新定向的该倾斜光相关联的一个光学功率值。

2.如权利要求1所述的光纤检查显微镜与功率测量系统，其中，该光纤检查显微镜与功率测量系统包括一个光纤检查尖端，该光纤检查尖端具有一个尖端壳体并且包括被封闭在该尖端壳体内的该配合接口和该聚光元件；并且其中，该壳体结构包括该尖端壳体和一个探针壳体，该探针壳体封闭该功率检测组件和所述光纤端面成像组件。

3.如权利要求2所述的光纤检查显微镜与功率测量系统，其中，该成像组件被光学耦合到该聚光元件，该成像组件被配置成用于照射该光纤的该端面并且对该受照端面进行成像以便对其进行检查。

4.如权利要求2或3所述的光纤检查显微镜与功率测量系统，其中，该尖端壳体具有用于接纳该成角度抛光的连接器的一个套管接纳通道，该套管接纳通道相对于该成像路径倾斜，从而使得该光纤的该端面垂直于该光纤检查显微镜与功率测量系统的该成像路径而定位。

5.如权利要求2或3所述的光纤检查显微镜与功率测量系统，其中，该尖端壳体可释放地连接到该探针壳体。

6.如权利要求5所述的光纤检查显微镜与功率测量系统，其中，该光纤检查尖端可与不具有聚光元件的多个光纤检查尖端互换。

7.如权利要求6所述的光纤检查显微镜与功率测量系统，其中，该聚光元件使该端面在该成像组件的一个图像传感器上的一个图像相比于不具有聚光元件的这些光纤检查尖端被放大，以获得低于每像素0.2μm的分辨率。

8.如权利要求1、2或3所述的光纤检查显微镜与功率测量系统，其中，该聚光元件是一个聚光透镜系统。

9.如权利要求1、2或3所述的光纤检查显微镜与功率测量系统，其中，该成像组件的数值孔径大于0.31。

10.如权利要求1、2或3所述的光纤检查显微镜与功率测量系统，其中，沿着该成像路径在该聚光元件与该端面之间的距离值介于6mm与7mm之间。