[发明专利]一种微半环凹模阵列微细超声分级研抛方法在审
申请号: | 201510802001.2 | 申请日: | 2015-11-19 |
公开(公告)号: | CN105479275A | 公开(公告)日: | 2016-04-13 |
发明(设计)人: | 赵军;袁巨龙;杭伟 | 申请(专利权)人: | 浙江工业大学 |
主分类号: | B24B1/04 | 分类号: | B24B1/04;B24B37/00;B24B37/11;B24B37/34 |
代理公司: | 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 | 代理人: | 王利强 |
地址: | 310014 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 一种微半环凹模阵列微细超声分级研抛方法,包括如下步骤:1)制作精密球阵列研抛模;2)第一级研抛:采用阵列微细工具,研抛模在衬底片上方微小距离内做高频微细超声振动并沿着Z方向向下进给,XY平台配合加工要求带动工件运动,先去除一层材料,之后,Z轴继续向下进给,使得轨迹点在XY平面的投影内收,再去除下一层材料,依此类推,直至加工出具有阶梯递进的和加工形状及其相似的微凹模阵列;3)第二级研抛:采用精密球阵列研抛模,实现微半环凹模阵列的材料脆性去除;3)第三级研抛:精密球阵列研抛模的微细超声振动,采用纳米级磨粒,对微凹模进行修形和降低表面粗糙度。本发明高形状精度、低表面粗糙度、高表面质量、高效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 微半环凹模 阵列 微细 超声 分级 方法 | ||
【主权项】:
一种微半环凹模阵列微细超声分级研抛方法,其特征在于:所述研抛方法包括如下步骤:1)制作精密球阵列研抛模所述研抛模包括工具连杆、定位基板和精密球体,工具连杆的上端与微细超声发生器相连接,所述工具连杆的下端与定位基板连接,在定位基板上加工出阵列孔径,孔径大小小于精密球体直径,在孔径和精密球体之间充满粘结剂,球体的一部分嵌入孔内;2)第一级研抛采用阵列微细工具,微细工具研抛模与衬底片之间充满研抛液,研抛液内包含微细磨粒,研抛模在衬底片上方微小距离内做高频微细超声振动并沿着Z方向向下进给,XY平台配合加工要求带动工件运动,先去除一层材料,之后,XY平台继续带动工件运动,Z轴继续向下进给,使得轨迹点在XY平面的投影内收,再去除下一层材料,依此类推,直至加工出具有阶梯递进的和加工形状及其相似的微凹模阵列;3)第二级研抛精密球阵列研抛模沿Z向通过两级进给向下运动,协同微细超声振动,激发研抛液内的磨粒高速冲击衬底片,在磨粒冲击、超声空化、研抛模锤击、研抛模刮擦等复合作用下,实现微半环凹模阵列的材料去除,此级材料去除属于脆性去除;4)第三级研抛通过调整超声振动的参数和Z向进给参数,使得工件的材料去除形式为塑性材料去除;Z轴的两级向下进给运动,以及精密球阵列研抛模的微细超声振动,采用纳米级磨粒,对微凹模进行修形和降低表面粗糙度。
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