[发明专利]晶体对轴对称偏振光热焦距的测量方法及装置在审
| 申请号： | 201510791659.8 | 申请日： | 2015-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN105223000A | 公开（公告）日： | 2016-01-06 |
| 发明（设计）人： | 陈檬;禹伶洁 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人： | 吴甘棠 |
| 地址： | 100124 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种晶体对轴对称偏振光热焦距的测量方法及装置，包括以光线传播方向依次放置的光处理组件、结果检测组件、测量组件；结果检测组件与其安装位为可拆卸连接；光处理组件的光学元件包括：以光线传播方向依次放置的指示光源、第一薄膜偏振片、S波片；结果检测组件的光学元件包括：以光线传播方向依次放置的第二薄膜偏振光、感光元件；测量组件的光学元件包括：被测晶体放置位、45°镜、耦合透镜、泵浦源。本发明采用线偏振光通入S波片，并利用S波片的特性产生轴对称偏振光，通过轴对称偏振光通入被测晶体判断焦点位置，装置整体结构简单，指示灯更加精确，有效避免了调节狭缝带来的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体 轴对称 偏振 光热 焦距 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
一种晶体对轴对称偏振光热焦距的测量装置，其特征在于，包括以光线传播方向依次放置的光处理组件、结果检测组件、测量组件；所述结果检测组件与其安装位为可拆卸连接；所述光处理组件的光学元件包括：以光线传播方向依次放置的指示光源、第一薄膜偏振片、S波片；所述结果检测组件的光学元件包括：以光线传播方向依次放置的第二薄膜偏振光、感光元件；所述测量组件的光学元件包括：被测晶体放置位、45°镜、耦合透镜、泵浦源。
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