[发明专利]电子设备及其控制方法有效
| 申请号： | 201510751760.0 | 申请日： | 2015-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN105589612B9 | 公开（公告）日： | 2019-05-28 |
| 发明（设计）人： | 田中友章;中尾邦久 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京怡丰知识产权代理有限公司 11293 | 代理人： | 迟军 |
| 地址： | 日本东京都*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种电子设备及其控制方法。触摸检测设备包括：确定单元，其被构造为基于以彼此相交的方式布置的多个电极中的各个的自电容的测量，来确定导电物体的区域；以及检测单元，其被构造为基于所述多个电极当中的、与由所述确定单元确定的导电物体的区域相对应的电极的互电容的测量，来检测导电物体，而不测量由所述确定单元确定的导电物体的区域外部的电极的互电容。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电子设备，所述电子设备包括：确定单元，其被构造为基于以彼此相交的方式布置的多个电极中的各个的自电容的测量，来在第N帧中确定导电物体的区域；检测单元，其被构造为基于所述多个电极当中的、与由所述确定单元确定的所述导电物体的区域相对应的电极的互电容的测量，来在第N帧中检测所述导电物体，而不在第N帧中测量由所述确定单元确定的所述导电物体的区域外部的电极的互电容；以及控制单元，其被构造为控制所述自电容的测量，从而不测量由所述检测单元在第N帧中检测到的所述导电物体的区域的电极在第N+1帧中的自电容，而是测量由所述确定单元在第N帧中未被确定为所述导电物体的区域的区域的电极在第N+1帧中的自电容，其中，所述确定单元还基于所述控制单元的控制，根据对所述多个电极中的各个在第N+1帧中的自电容的测量，在第N+1帧中确定所述导电物体的区域，并且所述检测单元基于对与由所述确定单元在第N+1帧中确定的所述导电物体的区域相对应的电极在第N+1帧中的互电容的测量，来在第N+1帧中检测所述导电物体。
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