[发明专利]电子设备及其控制方法

权利要求书

1.一种电子设备，所述电子设备包括：

确定单元，其被构造为基于以彼此相交的方式布置的多个电极中的各个的自电容的测量，来在第N帧中确定导电物体的区域；

检测单元，其被构造为基于所述多个电极当中的、与由所述确定单元确定的所述导电物体的区域相对应的电极的互电容的测量，来在第N帧中检测所述导电物体，而不在第N帧中测量由所述确定单元确定的所述导电物体的区域外部的电极的互电容；以及

控制单元，其被构造为控制所述自电容的测量，从而不测量由所述检测单元在第N帧中检测到的所述导电物体的区域的电极在第N+1帧中的自电容，而是测量由所述确定单元在第N帧中未被确定为所述导电物体的区域的区域的电极在第N+1帧中的自电容，

其中，所述确定单元还基于所述控制单元的控制，根据对所述多个电极中的各个在第N+1帧中的自电容的测量，在第N+1帧中确定所述导电物体的区域，并且

所述检测单元基于对与由所述确定单元在第N+1帧中确定的所述导电物体的区域相对应的电极在第N+1帧中的互电容的测量，来在第N+1帧中检测所述导电物体。

2.根据权利要求1所述的电子设备，所述电子设备还包括：

施加单元，其被构造为将驱动脉冲施加到所述多个电极，

其中，所述施加单元将所述驱动脉冲施加到与由所述确定单元确定的所述导电物体的区域相对应的电极，而不进行将所述驱动脉冲施加到由所述确定单元确定的所述导电物体的区域外部的电极。

3.根据权利要求1所述的电子设备，所述电子设备还包括：

累积单元，其被构造为对所述多个电极的电容进行累积，

其中，所述累积单元对与由所述确定单元确定的所述导电物体的区域相对应的电极的电容进行累积，而对由所述确定单元确定的所述导电物体的区域外部的电极的电容不进行累积。

4.根据权利要求1所述的电子设备，其中，所述确定单元基于从所述多个电极中选出的电极的自电容的测量，来确定所述导电物体的区域。

5.根据权利要求4所述的电子设备，所述电子设备还包括：

划分单元，其被构造为将所述多个电极划分为两个或更多个组，

其中，所述确定单元基于由所述划分单元划分的各个组的自电容的测量，来确定所述导电物体的区域。

6.根据权利要求5所述的电子设备，

其中，所述划分单元将所述多个电极划分为奇数编号电极组和偶数编号电极组，并且

其中，所述确定单元基于针对各个帧在所述奇数编号的电极组和所述偶数编号的电极组中交替进行的自电容的测量，来确定所述导电物体的区域。

7.根据权利要求1所述的电子设备，所述电子设备还包括：

移动确定单元，其被构造为基于第N帧与第N-1帧之间的自电容的测量的差分量，来确定所述导电物体的移动，

其中，所述检测单元除了基于与在所述第N-1帧中确定的所述导电物体的区域相对应的电极之外，还基于由所述移动确定单元确定的、与将所述导电物体移动到的区域相对应的电极的互电容的测量，来检测所述导电物体。

8.根据权利要求7所述的电子设备，所述电子设备还包括：

获取单元，其被构造为基于所述互电容的测量，来获取所述第N-1帧中的所述导电物体的区域。

9.根据权利要求1所述的电子设备，其中，所述检测单元检测所述导电物体的位置。

10.一种电子设备的控制方法，所述控制方法包括以下步骤：

确定步骤，基于以彼此相交的方式布置的多个电极中的各个的自电容的测量，来在第N帧中确定导电物体的区域；

检测步骤，基于所述多个电极当中的、与在所述确定步骤中确定的所述导电物体的区域相对应的电极的互电容的测量，来在第N帧中检测所述导电物体，而不在第N帧中测量在所述确定步骤中确定的所述导电物体的区域外部的电极的互电容；以及

控制步骤，控制所述自电容的测量，从而不测量在所述检测步骤中在第N帧中检测到的所述导电物体的区域的电极在第N+1帧中的自电容，而是测量在所述确定步骤中在第N帧中未被确定为所述导电物体的区域的区域的电极在第N+1帧中的自电容，

其中，所述确定步骤还基于在所述控制步骤中的控制，根据对所述多个电极中的各个在第N+1帧中的自电容的测量，在第N+1帧中确定所述导电物体的区域，并且

所述检测步骤还基于对与在所述确定步骤中在第N+1帧中确定的所述导电物体的区域相对应的电极在第N+1帧中的互电容的测量，来在第N+1帧中检测所述导电物体。