[发明专利]一种高精度的试样尺寸测量系统在审

专利信息
申请号: 201510654846.1 申请日: 2015-10-12
公开(公告)号: CN105157582A 公开(公告)日: 2015-12-16
发明(设计)人: 王健;孟祥友;马世国 申请(专利权)人: 济南时代试金试验机有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 济南泉城专利商标事务所 37218 代理人: 郭禾苗
地址: 250000 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 一种高精度的厚板试样尺寸测量系统,包括由上到下依次安装的试样对中位移机构、连接机构、试样测量机构、试样夹持机构以及试样测量驱动机构;试样对中位移机构包括:传动板、旋转销、中光轴、短光轴和长光轴,中光轴的末端与试样夹持机构连接并紧固,中光轴的中段与试样夹持机构连接,中光轴的上端与连接机构连接,连接机构固定在试样测量机构上,中光轴的顶端通过旋转销与传动板连接;短光轴的末端通过连接机构与试样测量机构固定,短光轴的上端通过旋转销与传动板连接;长光轴在中段与试样夹持机构连接并紧固,在下端和上端分别与试样夹持机构和试样测量机构连接,长光轴的顶端通过旋转销与传动板连接;短光轴位于中光轴和长光轴的间距中心。
搜索关键词: 一种 高精度 试样 尺寸 测量 系统
【主权项】:
一种高精度的厚板试样尺寸测量系统,其特征在于:包括由上到下依次安装的试样对中位移机构、连接机构、试样测量机构、试样夹持机构以及试样测量驱动机构,其中试样测量驱动机构安装于底板的上方;所述试样对中位移机构为连杆机构,包括:传动板、3个旋转销、中光轴、短光轴和长光轴,所述中光轴、短光轴和长光轴分别通过3个旋转销连接传动板;所述中光轴的末端与试样夹持机构通过螺钉抱紧的方式连接并紧固,中光轴的中段与试样夹持机构连接,中光轴的上端与连接机构连接,连接机构通过螺钉固定在试样测量机构上,中光轴的顶端通过旋转销与传动板连接;所述短光轴的末端通过连接机构与试样测量机构固定,短光轴的上端通过旋转销与传动板连接;所述长光轴在中段部分与试样夹持机构通过螺钉抱死的方式连接并紧固,在下端和上端分别与试样夹持机构和试样测量机构连接,长光轴的顶端通过旋转销与传动板连接;所述短光轴位于中光轴和长光轴的间距中心。
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