[发明专利]输送方法和检查系统有效
申请号: | 201510633761.5 | 申请日: | 2015-09-29 |
公开(公告)号: | CN105470182B | 公开(公告)日: | 2018-07-27 |
发明(设计)人: | 保坂广树;秋山雅彦 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/66 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;李炬 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在具有多个检查装置的检查系统中,能够不降低生产能力,而有效地防止半导体晶片在输送中途结露或结冰。在从t1至t4为止的第一步骤至第三步骤中,从气体导入装置(45)向罩(35)内以大流量导入干燥气体。另一方面,在从t4至t5为止的待机、移动的期间,使由气体导入装置(45)导入至罩35内的干燥气体的流量为小流量,与从t1至t4为止的期间相比使流量相对地减少或者停止。在时刻t2,将罩(35)的旋转位置从第一旋转位置切换至第二旋转位置,因此在至时刻t3为止的期间,能够通过遮蔽壁(43)使罩体(35)内接近密闭状态。 | ||
搜索关键词: | 输送 方法 检查 系统 | ||
【主权项】:
1.一种在对基板的电特性进行检查的检查系统中输送所述基板的输送方法,其特征在于:所述检查系统包括:具有对所述基板进行检查的多个检查装置的检查机构;载置用于收纳多个所述基板的盒的装载机构;和在所述检查机构与所述装载机构之间输送所述基板的输送装置,所述输送装置包括:支承所述基板的能够在水平方向上旋转的输送臂;覆盖所述输送臂且具有容许该输送臂的进出和退避的开口部,并且能够在水平方向上旋转的输送臂容器;设置在所述输送臂容器的外侧,通过所述输送臂容器的旋转来将所述开口部切换成开放状态和关闭状态的遮蔽部件;和向所述输送臂容器内导入干燥气体的气体导入装置,所述输送方法包括:从所述检查机构接收已检查完的所述基板的第一步骤,在所述开口部由所述遮蔽部件遮蔽的状态下,将从所述检查机构接收到的已检查完的所述基板向所述装载机构输送的第二步骤;和将已检查完的所述基板移交至所述装载机构的第三步骤。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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