[发明专利]一种高探测效率的单光子雪崩二极管探测器阵列单元有效
申请号: | 201510633246.7 | 申请日: | 2015-09-30 |
公开(公告)号: | CN105185796B | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | 徐跃;向平 | 申请(专利权)人: | 南京邮电大学 |
主分类号: | H01L27/144 | 分类号: | H01L27/144;H01L31/107;H01L31/0352 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人: | 汪旭东 |
地址: | 210023 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种高探测效率的单光子雪崩二极管探测器阵列单元,该阵列单元为环绕式P‑注入加P埋层和P‑埋层保护的深P阱的SPAD结构,即:在P型衬底中通过离子注入形成深P阱,深P阱中有两个埋层区,即P埋层区3和P‑埋层区4,P‑埋层区4的上面有P‑注入区8环绕。该阵列单元结构能够有效地提高SPAD器件的光子探测效率,且暗计数率很低,很好地提高了SPAD探测器的整体性能。 | ||
搜索关键词: | 埋层 深P阱 单光子雪崩二极管 探测器阵列单元 高探测效率 阵列单元 光子探测 环绕式 计数率 有效地 注入区 探测器 衬底 离子 环绕 | ||
【主权项】:
1.一种高探测效率的单光子雪崩光电二极管探测器阵列单元,其特征在于,所述阵列单元的有源区包括:P型衬底(1)、外延层(2)、P埋层区(3)、P‑埋层区(4)、P‑注入区和P阱之间的浅沟槽隔离(STI)区(5)、两P阱之间的浅沟槽隔离(STI)区(6)、深P阱(7)、P‑注入区(8)、N阱(9)、深P阱两侧的P阱(10)、外延层两侧的P阱(11)、N+区(12)、深P阱两侧的P+区(13)、外延层两侧的P+区(14);所述单光子雪崩光电二极管的深P阱(7)贯穿在P型衬底(1)和外延层(2)之间;P型衬底(1)的表面中心有一个P埋层区(3),P埋层区(3)的作用是保护环的作用,P埋层区(3)的周围环绕着P‑埋层区(4),P‑埋层区(4)可以控制雪崩区电场的均匀性,深P阱(7)的表面中心有一个N+区(12),N+区(12)表面引出电极作为单光子雪崩光电二极管器件的正极,N+区(12)被N阱(9)包围,N阱(9)和深P阱(7)之间形成雪崩区,N阱(9)的四周环绕着P‑注入区(8),P‑注入区(8)是一个环绕式保护环结构,深P阱(7)的表面两侧还有一个环形的P+区(13),其表面引出电极作为单光子雪崩光电二极管探测器器件的负极,环形P+区(13)被P阱(10)包围,外延层(2)两侧深P阱(7)以外还有一个环形P+区(14),环形P+区(14)被P阱(11)包围;两个P阱之间用浅沟槽隔离区(6)隔开,P阱(10)和P‑注入区(8)用浅沟槽隔离区(5)隔开。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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