[发明专利]荧光X射线分析装置以及其样品显示方法有效
| 申请号： | 201510538448.3 | 申请日： | 2015-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN105388176B | 公开（公告）日： | 2019-12-06 |
| 发明（设计）人： | 八木勇夫 | 申请（专利权）人： | 日本株式会社日立高新技术科学 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 72001 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 秦琳;陈岚<国际申请>=<国际公布>=< |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及荧光X射线分析装置以及其样品显示方法。具备：样品台（2），能够设置样品S；样品移动机构，能够移动样品台（2）；X射线源，对样品照射一次X射线；检测器，检测从样品产生的荧光X射线；摄像部，对样品台上的样品进行摄像；显示器部（7），在画面中显示所摄像的图像；定点设备，能够在画面中指定特定的位置来输入；图像处理部，在输入的画面中的位置显示标记M；以及控制部，控制样品移动机构和图像处理部，控制部在利用样品移动机构使样品台移动时利用图像处理部使画面中的标记沿与样品台相同的移动方向移动相同的移动距离并显示。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 射线 分析 装置 及其 样品 显示 方法 | ||
【主权项】：
1.一种荧光X射线分析装置，其特征在于，具备：/n样品台，能够设置样品；/n样品移动机构，能够移动所述样品台；/nX射线源，对所述样品照射一次X射线；/n检测器，检测从被照射所述一次X射线的所述样品产生的荧光X射线；/n摄像部，对所述样品台上的所述样品进行摄像；/n显示器部，在画面中显示由所述摄像部所摄像的图像；/n定点设备，能够在所述画面中指定特定的位置来输入；/n图像处理部，在通过所述定点设备输入的所述画面中的位置显示标记；以及/n控制部，控制所述样品移动机构和所述图像处理部，/n所述控制部在利用所述样品移动机构使所述样品台移动时利用所述图像处理部使所述画面中的所述标记沿与所述样品台相同的移动方向移动相同的移动距离并显示，/n所述控制部具有基于所述输入的所述画面中的位置和所述图像来存储对应于所述样品台上的所述标记的位置数据的功能，/n所述图像处理部在所述标记由于所述样品台的移动从所述画面的显示区域偏离而无法显示在所述画面中之后基于所述标记的位置数据的所述标记的位置由于所述样品台的移动而再次位于所述显示区域内时，基于所述标记的位置数据将所述标记再次显示在所述显示区域内。/n
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