[发明专利]荧光X射线分析装置以及其样品显示方法

权利要求书

1.一种荧光X射线分析装置，其特征在于，具备：

样品台，能够设置样品；

样品移动机构，能够移动所述样品台；

X射线源，对所述样品照射一次X射线；

检测器，检测从被照射所述一次X射线的所述样品产生的荧光X射线；

摄像部，对所述样品台上的所述样品进行摄像；

显示器部，在画面中显示由所述摄像部所摄像的图像；

定点设备，能够在所述画面中指定特定的位置来输入；

图像处理部，在通过所述定点设备输入的所述画面中的位置显示标记；以及

控制部，控制所述样品移动机构和所述图像处理部，

所述控制部在利用所述样品移动机构使所述样品台移动时利用所述图像处理部使所述画面中的所述标记沿与所述样品台相同的移动方向移动相同的移动距离并显示，

所述控制部具有基于所述输入的所述画面中的位置和所述图像来存储对应于所述样品台上的所述标记的位置数据的功能，

所述图像处理部在所述标记由于所述样品台的移动从所述画面的显示区域偏离而无法显示在所述画面中之后基于所述标记的位置数据的所述标记的位置由于所述样品台的移动而再次位于所述显示区域内时，基于所述标记的位置数据将所述标记再次显示在所述显示区域内。

2.根据权利要求1所述的荧光X射线分析装置，其特征在于，

在将多个所述样品排列设置于所述样品台的情况下，

所述控制部能够将号码显示为所述标记。

3.根据权利要求1或2所述的荧光X射线分析装置，其特征在于，

所述摄像部具有改变所述样品的摄像倍率来向任意的显示倍率变更所述图像的功能，

所述图像处理部在与所述摄像倍率对应的所述输入的位置显示所述标记。

4.根据权利要求1或2所述的荧光X射线分析装置，其特征在于，所述控制部具有将显示有所述标记的所述画面保存为图像数据的功能。

5.根据权利要求1或2所述的荧光X射线分析装置，其特征在于，

所述控制部具有：

基于根据所述图像的所述样品台上的所述样品的位置数据和所述输入的所述画面中的位置来存储对应于所述样品台上的所述标记的位置数据的功能；以及

在基于所述样品的位置数据在与所述样品相同的位置将样品新设置于所述样品台时、在基于所述标记的位置数据的相同的位置使所述标记显示在所述画面中的功能。

6.一种荧光X射线分析装置的样品显示方法，所述荧光X射线分析装置通过摄像部对设置于样品台的样品进行摄像，使该摄像的图像显示在显示器部中，移动所述样品台，由此，进行针对所述样品的X射线照射的位置对准，之后，进行测定或分析，所述样品显示方法的特征在于，具有：

摄像工序，通过所述摄像部取得所述样品的图像；

显示工序，通过图像处理部将所述图像显示在所述显示器部的画面中；

输入工序，在所述画面上的任意的位置通过定点设备输入标记；

显示同步工序，在使所述样品台移动时，利用所述图像处理部使所述画面中的所述标记沿与所述样品台相同的移动方向移动相同的移动距离并显示；

位置存储工序，基于所述输入的所述画面中的位置和所述图像来存储对应于所述样品台上的所述标记的位置数据；以及

工序，所述图像处理部在所述标记由于所述样品台的移动从所述画面的显示区域偏离而无法显示在所述画面中之后基于所述标记的位置数据的所述标记的位置由于所述样品台的移动而再次位于所述显示区域内时，基于所述标记的位置数据将所述标记再次显示在所述显示区域内。

7.根据权利要求6所述的荧光X射线分析装置的样品显示方法，其特征在于，具有：

显示倍率变更工序，所述摄像部在改变所述样品的摄像倍率来向任意的显示倍率变更所述图像时，利用所述图像处理部在与所述摄像倍率对应的所述输入的位置显示所述标记。

8.根据权利要求6或7所述的荧光X射线分析装置的样品显示方法，其特征在于，具有：

位置存储工序，基于根据所述图像的所述样品台上的所述样品的位置数据和所述输入的所述画面中的位置来存储对应于所述样品台上的所述标记的位置数据；以及

再次显示工序，在基于所述样品的位置数据在与所述样品相同的位置将样品新设置于所述样品台时，在基于所述标记的位置数据的位置使所述标记显示在所述画面中。