[发明专利]一种承片台有效
申请号: | 201510520156.7 | 申请日: | 2015-08-21 |
公开(公告)号: | CN105225999B | 公开(公告)日: | 2018-11-09 |
发明(设计)人: | 陈波;李楠;夏洋 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘杰 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及半导体和集成电路制造技术领域,具体涉及一种承片台。所述承片台包括:承片台本体;至少三个支柱,至少三个所述支柱设置在所述承片台本体的上表面,且在同一圆周上分布设置;凸台,所述凸台设置在所述承片台本体的上表面,且被至少三个所述支柱环绕,所述凸台的高度低于所述支柱的高度;进气孔,所述进气孔设置在所述承片台本体的底部;至少两个出气孔,至少两个所述出气孔设置在所述凸台的侧面;氮气通过所述进气孔通入所述气道,然后从所述出气孔喷出。本发明出气孔喷出氮气形成运动气流,使得承片台中心压力低,周边压力高,从而将晶圆固定在承片台上;同时,由于晶圆背面通有氮气,可以保护晶圆背面不会被化学液污染。 | ||
搜索关键词: | 一种 承片台 | ||
【主权项】:
1.一种承片台,用于承载固定晶圆,其特征在于,所述承片台包括:承片台本体;至少三个支柱,至少三个所述支柱设置在所述承片台本体的上表面,且在同一圆周上分布设置,所述支柱用于支起所述晶圆;凸台,所述凸台设置在所述承片台本体的上表面,且被至少三个所述支柱环绕,所述凸台的高度低于所述支柱的高度;进气孔,所述进气孔设置在所述承片台本体的底部;至少两个出气孔,至少两个所述出气孔设置在所述凸台的侧面,且在所述凸台的侧面圆周上均匀分布;其中,至少两个所述出气孔与所述进气孔通过所述凸台内部的气道相连通;氮气通过所述进气孔通入所述气道,然后从所述出气孔喷出;其中,所述出气孔喷出气体的方向与经过所述出气孔的切线成0~20度角;其中,所述凸台的高度为小于等于10mm。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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