[发明专利]一种液晶面板、TFT基板及其检测方法有效
| 申请号： | 201510483335.8 | 申请日： | 2015-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN105093743B | 公开（公告）日： | 2018-03-13 |
| 发明（设计）人： | 刘桓 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1362 | 分类号： | G02F1/1362;G02F1/13;H01L27/12 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280 | 代理人： | 何青瓦 |
| 地址： | 518006 广东省深圳市光明新区公*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种液晶面板、TFT基板以及TFT基板的检测方法。TFT基板包括多个像素单元，第2n+1行的第一像素单元的辅像素区与第2n+2行的第二像素单元的电容电连接，第2n+2行的第二像素单元的辅像素区与第2n+1行的第一像素单元的电容电连接，对第一像素单元和第二像素单元分别提供不相等的电压信号。通过上述方式，本发明能检测出同一像素单元中的电容与辅像素区是否短接，从而及时进行修补，改善产品品质。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 液晶面板 tft 及其 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种TFT基板，其特征在于，所述TFT基板包括：多个呈矩阵设置的像素单元，其中每一所述像素单元包括主像素区、辅像素区和电容，所述像素单元包括分布于奇数行的第一像素单元和分布于偶数行的第二像素单元，第2n+1行的所述第一像素单元的辅像素区与第2n+2行的所述第二像素单元的电容电连接，第2n+2行的所述第二像素单元的辅像素区与第2n+1行的所述第一像素单元的电容电连接，n为自然数；其中，对所述第一像素单元和所述第二像素单元分别提供不相等的电压信号以检测同一所述像素单元中的电容与主像素区或辅像素区是否短接。
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