[发明专利]基于目标特征显著图构建的工业产品表面缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 201510419851.4 申请日: 2015-07-16
公开(公告)号: CN105069778B 公开(公告)日: 2017-06-23
发明(设计)人: 管声启 申请(专利权)人: 西安工程大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136
代理公司: 西安弘理专利事务所61214 代理人: 罗笛
地址: 710048 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于目标特征显著图构建的工业产品表面缺陷检测方法,具体按照以下步骤实施步骤1、将采集到的彩色图像转换为灰度图像;步骤2、根据灰度图像的表面缺陷面积特征和数目特征分别构建前景目标面积特征显著图和数目特征显著图;步骤3、分别确定阈值,然后根据所确定的阈值分别对面积特征显著图和数目特征显著图进行分割分别获得面积特征二值图和数目特征二值图;步骤4、将面积特征二值图和数目特征二值图融合成为整体二值图;步骤5、根据前景目标面积,确定滤波阈值,滤除小于滤波阈值的噪声和伪目标,大于滤波阈值的即为工业产品表面缺陷。本发明检测方法缺陷检测准确率高,适应性和抗噪性强。
搜索关键词: 基于 目标 特征 显著 构建 工业产品 表面 缺陷 检测 方法
【主权项】:
基于目标特征显著图构建的工业产品表面缺陷检测方法,其特征在于,具体按照以下步骤实施:步骤1、将采集到的彩色图像转换为灰度图像f(x,y);步骤2、根据步骤1得到的灰度图像f(x,y)的表面缺陷面积特征和数目特征分别构建前景目标面积特征显著图f1(x,y)和数目特征显著图f2(x,y);步骤3、在步骤2得到的面积特征显著图f1(x,y)和数目特征显著图f2(x,y)上,分别确定阈值,然后根据所确定的阈值分别对面积特征显著图和数目特征显著图进行分割分别获得面积特征二值图[f1(x,y)]和数目特征二值图[f2(x,y)];步骤4、将步骤3得到的面积特征二值图[f1(x,y)]和数目特征二值图[f2(x,y)]融合成为整体二值图F(x,y);步骤5、在步骤4获得的整体二值图F(x,y)中,根据前景目标面积,确定滤波阈值,滤除小于滤波阈值的噪声和伪目标,大于滤波阈值的即为工业产品表面缺陷。
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