[发明专利]薄膜压电体基板、薄膜压电体元件及其制造方法和应用有效

专利信息
申请号: 201510309380.1 申请日: 2015-06-05
公开(公告)号: CN106206931B 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 野口隆男;熊伟;饭塚大助;西山一志 申请(专利权)人: 新科实业有限公司
主分类号: H01L41/187 分类号: H01L41/187;H01L41/39;C04B35/491
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫
地址: 中国香港新界沙田香*** 国省代码: 香港;81
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摘要: 发明涉及一种薄膜压电体基板,其能够相对更广范围的外加电压而得到稳定的压电特性,并且能够相对尽可能广范围的外加电压而进行直线性优良的动作。在薄膜压电体基板1中,依次层压了下部电极膜、压电体膜以及上部电极膜的层压膜3形成于硅晶片2的表面1a。压电体膜由通式Pb(Zrx,Ti(1‑x))O3表示的锆钛酸铅制成,x满足0.53x0.70的条件,并且符合关于表面垂直方向的晶格常数dv(单位为nm)的下述晶格常数条件,压电体膜进一步通过在表面垂直方向上(100)面定向而形成。dv0.02x+0.398。
搜索关键词: 薄膜 压电 体基板 元件 及其 制造 方法 应用
【主权项】:
一种薄膜压电体基板,其在成膜用基板的表面上形成有层压膜,该层压膜依次层压有下部电极膜、压电体膜以及上部电极膜,其中,所述压电体膜由通式Pb(Zrx,Ti(1‑x))O3表示的锆钛酸铅制成,所述x满足0.53<x<0.70的条件,并且符合关于表面垂直方向的晶格常数dv(单位为nm)的下述晶格常数条件,所述压电体膜进一步通过在表面垂直方向上(100)面定向而形成,dv>0.02x+0.398。
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