[发明专利]柱状隔垫物的对位标识的制备方法和精度检测方法有效
申请号: | 201510303502.6 | 申请日: | 2015-06-05 |
公开(公告)号: | CN104849901B | 公开(公告)日: | 2018-07-03 |
发明(设计)人: | 黎敏;姜晶晶;肖宇;李晓光;杨同华 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/1333 | 分类号: | G02F1/1333;G02F1/1335;G02F1/1339;G02F1/13 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 祝亚男 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种柱状隔垫物的对位标识的制备方法和精度检测方法,属于液晶技术领域。所述方法包括:制备彩色滤光片的过程中,在制作黑矩阵层时,在基板上制备至少一个第一亚像素开口区域和多个第二亚像素开口区域,其中,所述第一亚像素开口区域的尺寸小于所述第二亚像素开口区域;在制作彩色膜层RGB层时,将所述至少一个第一亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸制作成小于所述多个第二亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸;在所述RGB层上制备平坦层;在所述平坦层上制作柱状隔垫物层时,在所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置,制作对位标识。本发明可以实现对柱状隔垫物位置精度的检测,从而实现对层间位置精度的精确管控。 | ||
搜索关键词: | 开口区域 亚像素 制备 柱状隔垫物 对位标识 制作 精度检测 平坦层 上彩色 膜层 彩色滤光片 彩色膜层 黑矩阵层 液晶技术 对层 管控 基板 检测 | ||
【主权项】:
1.一种柱状隔垫物的对位标识的制备方法,其特征在于,所述方法包括:制备彩色滤光片的过程中,在制作黑矩阵层时,在基板上制备至少一个第一亚像素开口区域和多个第二亚像素开口区域,其中,所述第一亚像素开口区域的尺寸小于所述第二亚像素开口区域;在制作彩色膜层RGB层时,将所述至少一个第一亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸制作成小于所述多个第二亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸;在所述RGB层上制备平坦层;在所述平坦层上制作柱状隔垫物层时,在所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置,制作对位标识。
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