[发明专利]柱状隔垫物的对位标识的制备方法和精度检测方法有效
申请号: | 201510303502.6 | 申请日: | 2015-06-05 |
公开(公告)号: | CN104849901B | 公开(公告)日: | 2018-07-03 |
发明(设计)人: | 黎敏;姜晶晶;肖宇;李晓光;杨同华 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/1333 | 分类号: | G02F1/1333;G02F1/1335;G02F1/1339;G02F1/13 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 祝亚男 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 开口区域 亚像素 制备 柱状隔垫物 对位标识 制作 精度检测 平坦层 上彩色 膜层 彩色滤光片 彩色膜层 黑矩阵层 液晶技术 对层 管控 基板 检测 | ||
1.一种柱状隔垫物的对位标识的制备方法,其特征在于,所述方法包括:
制备彩色滤光片的过程中,在制作黑矩阵层时,在基板上制备至少一个第一亚像素开口区域和多个第二亚像素开口区域,其中,所述第一亚像素开口区域的尺寸小于所述第二亚像素开口区域;
在制作彩色膜层RGB层时,将所述至少一个第一亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸制作成小于所述多个第二亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸;
在所述RGB层上制备平坦层;
在所述平坦层上制作柱状隔垫物层时,在所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置,制作对位标识。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一亚像素开口区域上的彩色膜层为R、G或B膜层中任一种。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置为所述至少一个第一亚像素开口区域的上方预设距离处或下方预设距离处。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对位标识的形状为方形或圆形。
5.一种精度检测方法,其特征在于,包括:
柱状隔垫物PS的制作工序完成时,测量第一亚像素开口区域和对位标识,所述第一亚像素开口区域的尺寸小于基板上的第二亚像素开口区域,亚像素开口区域用于放置亚像素显示单元;所述对位标识位于至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置;
计算所述第一亚像素开口区域和对位标识之间的位置差异;
根据所述位置差异,计算柱状隔垫物的位置精度。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述第一亚像素开口区域上的彩色膜层为R、G或B膜层中任一种。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置为所述至少一个第一亚像素开口区域的上方预设距离处或下方预设距离处。
8.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述对位标识的形状为方形或圆形。
9.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,计算第一亚像素开口区域和对位标识之间的位置差异包括:
根据测量得到的所述第一亚像素开口区域的顶点位置,确定所述第一亚像素开口区域的中心位置;
根据测量得到的所述对位标识的顶点位置,确定所述对位标识的中心位置;
计算所述第一亚像素开口区域的中心位置和所述对位标识的中心位置之间的位置差异。
10.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,根据所述位置差异,计算柱状隔垫物的位置精度包括:
根据所述位置差异和预设设计位置差,计算所述柱状隔垫物的位置精度。
11.一种彩色滤光片,其特征在于,包括:基板、黑矩阵、彩色膜层、平坦层和柱状隔垫物膜层,
其中,所述基板的第一亚像素开口区域的尺寸小于第二亚像素开口区域的尺寸;
至少一个第一亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸小于多个第二亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸;
在所述平坦层上所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置上,制备有对位标识。
12.根据权利要求11所述的彩色滤光片,其特征在于,所述第一亚像素开口区域上的彩色膜层为R、G或B膜层中任一种。
13.根据权利要求11所述的彩色滤光片,其特征在于,所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置为所述至少一个第一亚像素开口区域的上方预设距离处或下方预设距离处。
14.根据权利要求11所述的彩色滤光片,其特征在于,
所述对位标识的形状为方形或圆形。
15.一种液晶面板,其特征在于,所述液晶面板包括上述权利要求11-14中任一项所述的彩色滤光片。
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