[发明专利]AMOLED背板结构及其制作方法有效
申请号: | 201510243764.8 | 申请日: | 2015-05-13 |
公开(公告)号: | CN104952884B | 公开(公告)日: | 2019-11-26 |
发明(设计)人: | 李文辉;王宜凡 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L27/32 |
代理公司: | 44265 深圳市德力知识产权代理事务所 | 代理人: | 林才桂<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种AMOLED背板结构及其制作方法。在一个子像素内,TFT基板(TS)对应于像素定义层(7)开口(71)的区域设置凹凸结构(4),所述凹凸结构(4)包括数个凸起部(41)、及设于每相邻两个凸起部(41)之间的凹陷部(42);对应位于所述凹凸结构(4)上方的部分平坦层(5)的上表面及像素电极(6)具有与该凹凸结构(4)相应的曲面形状。该AMOLED背板结构能够在保证平坦层(5)光顺无突变拐点的前提下,使像素电极(6)呈曲面形状,增大有效显示面积,延长OLED寿命,降低制程难度,提升解析度。 | ||
搜索关键词: | amoled 背板 结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种AMOLED背板结构,其特征在于,具有多个呈阵列式排布的子像素;在一个子像素内,该AMOLED背板包括:TFT基板(TS)、设于所述TFT基板(TS)上的平坦层(5)、设于所述平坦层(5)上的像素电极(6)、设于所述像素电极(6)上的像素定义层(7)、及设于所述像素定义层(7)上的光阻间隙物(8);/n所述TFT基板(TS)内设有开关TFT(T1)、驱动TFT(T2)、及电容(C);/n所述像素定义层(7)具有一开口(71),以暴露出部分像素电极(6);/n所述TFT基板(TS)对应于像素定义层(7)开口(71)的区域设置凹凸结构(4),所述凹凸结构(4)包括数个凸起部(41)、及设于每相邻两个凸起部(41)之间的凹陷部(42),所述凸起部(41)与凹陷部(42)的高度相等;/n对应位于所述凹凸结构(4)上方的部分平坦层(5)的上表面及像素电极(6)具有与该凹凸结构(4)相应的曲面形状;/n所述凸起部(41)的横截面呈梯形,所述凹陷部(42)的横截面呈倒置的梯形;/n在一个子像素内,所述TFT基板(TS)具体包括基板(1)、间隔设于所述基板(1)上的第一、第二栅极(G1、G2)、设于所述第一、第二栅极(G1、G2)及基板(1)上的栅极绝缘层(3)、分别于第一、第二栅极(G1、G2)上方设于所述栅极绝缘层(3)上的第一、第二半导体层(A1、A2)、设于所述第一、二半导体层(A1、A2)及栅极绝缘层(3)上的蚀刻阻挡层(ESL)、设于所述蚀刻阻挡层(ESL)上并接触所述第一半导体层(A1)的第一源极(S1)、设于所述蚀刻阻挡层(ESL)上并接触所述第一半导体层(A1)及第二栅极(G2)的第一漏极(D1)、设于所述蚀刻阻挡层(ESL)上并接触所述第二半导体层(A2)的第二源极(S2)、设于所述蚀刻阻挡层(ESL)上并接触所述第二半导体层(A2)的第二漏极(D2)、及设于所述蚀刻阻挡层(ESL)、第一源、漏极(S1、D1)、与第二源、漏极(S2、D2)上的保护层(PV);/n所述第一栅极(G1)、第一半导体层(A1)、第一源极(S1)、与第一漏极(D1)构成开关TFT(T1),所述第二栅极(G2)、第二半导体层(A2)、第二源极(S2)、与第二漏极(D2)构成驱动TFT(T2),所述第二栅极(G2)与第二源极(S2)同时构成电容(C);所述像素电极(6)接触所述第二漏极(D2);/n所述凹凸结构(4)形成于所述TFT基板(TS)的保护层(PV)。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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