[发明专利]一种制备连续面形螺旋相位板的方法在审

专利信息
申请号: 201510243020.6 申请日: 2015-05-13
公开(公告)号: CN104865790A 公开(公告)日: 2015-08-26
发明(设计)人: 史立芳;曹阿秀;郭书基;邓启凌;张满;庞辉;王佳舟 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G03F1/50 分类号: G03F1/50;G03F7/22;G02F1/01
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种制备连续面形螺旋相位板的方法,涉及微细加工,自旋光学等领域。本发明针对现有的技术在制备螺旋相位板时,存在制备效率低,成本高等缺点,提出一种新型的连续面形螺旋相位板制备的方法。该方法通过对目标面形进行量化组合而形成掩模结构,利用该掩模结构实现对曝光量的调制,进而可以利用单次曝光实现连续面形螺旋相位板的制备,是一种成本低,效率高,实用并具有较大应用前景的新方法。
搜索关键词: 一种 制备 连续 螺旋 相位 方法
【主权项】:
一种制备连续面形螺旋相位板的方法,其特征在于,该方法包含以下步骤:步骤(1)、根据目标面形进行掩模设计,具体为:假设该螺旋相位板的三维面形函数为f(x,y),其口径大小为D,选择抽样间隔d来对其进行量化,将该三维结构在某一方向上量化成N个等间隔的条形子区域,可以表达为fi(x,y),i=1,2……N,将每个条形子区域等比例投影到其抽样位置处的间隔内,此时其函数可以表达为i=1,2......N,其中C为常数,表示出了投影缩放时的比例,那么可以获得每个区域的子掩模函数可以表达为Mi(x,y),其中,当(i‑1)·d<y<(i‑1)·d‑fi(x)时,Mi(x,y)=1,对应的是子掩模中不透光区,其余部分Mi(x,y)=0,对应的是子掩模中的透光区,将所有的子掩模进行组合,即可获得总掩模图形M(x,y);步骤(2)、利用该掩模板对基片上涂覆的抗蚀剂进行曝光;步骤(3)、将曝光后的抗蚀剂进行显影,后烘,获得抗蚀剂上的面形结构;步骤(4)、采用刻蚀技术将抗蚀剂上的结构传递到所需要的基片材料上。
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