[发明专利]溅射靶及其制备方法有效
申请号: | 201510207454.0 | 申请日: | 2015-04-28 |
公开(公告)号: | CN104805407B | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 庄大明;赵明;李晓龙;曹明杰;孙汝军;张冷;高泽栋 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | C23C14/34 | 分类号: | C23C14/34;H01L31/18 |
代理公司: | 深圳市鼎言知识产权代理有限公司44311 | 代理人: | 哈达 |
地址: | 100084 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种溅射靶,由Cuy(In1‑xGax)Se2粉末及单质Se粉末混合后烧结形成,该溅射靶中含有Cuy(In1‑xGax)Se2+z。本发明还涉及一种溅射靶的制备方法,包括将Cuy(In1‑xGax)Se2粉末和单质Se粉末在液态介质中进行球磨混合,再将球磨后的混合物烘干去除该液态介质;以及采用热压烧结、常压烧结或热等静压烧结工艺,对球磨后得到的混合体在400°C~900°C进行烧结。 | ||
搜索关键词: | 溅射 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种溅射靶,其特征在于,由Cuy(In1‑xGax)Se2粉末及单质Se粉末混合后烧结形成,该溅射靶中含有Cuy(In1‑xGax)Se2+z或Cuy(In1‑xGax)Se2+z与单质Se的组合,该溅射靶中元素之间的摩尔比为1.222≤Se:(Cu+In+Ga)≤1.5,该溅镀靶的制备方法包括:将Cu(In1‑xGax)Se2粉末和单质Se粉末在液态介质中进行球磨混合,再将球磨后的混合物烘干去除该液态介质,该Cu(In1‑xGax)Se2粉末与单质Se粉末的摩尔比为1.0:(0.6~1.0);以及采用热压烧结、常压烧结或热等静压烧结工艺,对球磨后得到的混合体在400℃~900℃进行烧结,得到所述溅射靶,该溅射靶为Cuy(In1‑xGax)Se2中原位掺杂Se元素。
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