[发明专利]低暗电流的共振隧穿二极管高灵敏度探测器有效
申请号: | 201510098629.9 | 申请日: | 2015-03-06 |
公开(公告)号: | CN104659145B | 公开(公告)日: | 2017-01-25 |
发明(设计)人: | 裴康明;倪海桥;詹锋;董宇;牛智川 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L31/101 | 分类号: | H01L31/101;H01L31/0304 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种低暗电流的共振隧穿二极管高灵敏度探测器,包括一衬底;一发射极接触层,其制作在衬底上;一发射区,其制作在发射极接触层上,发射极接触层另一侧形成一台面;一隔离层,其制作在发射区上;一双势垒结构,其制作在隔离层上;一吸收层,其制作在双势垒层结构上;一集电区,其制作在吸收层上;一上电极,其制作在集电区上;一下电极,其制作在发射极接触层另一侧的台面上。本发明可以进一步降低暗电流。通过使用本发明提出的npin型掺杂,基于共振隧穿二极管的近红外探测器将会得到低的暗电流。 | ||
搜索关键词: | 电流 共振 二极管 灵敏度 探测器 | ||
【主权项】:
一种低暗电流的共振隧穿二极管高灵敏度探测器,包括:一衬底;一发射极接触层,其制作在衬底上;一发射区,其制作在发射极接触层上,发射极接触层另一侧形成一台面;一隔离层,其制作在发射区上;一双势垒结构,其制作在隔离层上,该双势垒结构包括一下势垒层、一势阱层和一上势垒层,该下势垒层和上势垒层的材料为AlAs,掺杂浓度为p型5×1017‑5×1018cm‑3,厚度分别为5‑10ML,该势阱层的材料为In0.53Ga0.47As,掺杂浓度为p型5×1017‑5×1018cm‑3,厚度为4‑10nmm;一吸收层,其制作在双势垒层结构上;一集电区,其制作在吸收层上;一上电极,其制作在集电区上;一下电极,其制作在发射极接触层另一侧的台面上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的