[发明专利]同步动态随机存储器SDRAM的测试方法及装置在审
| 申请号： | 201510098495.0 | 申请日： | 2015-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN105989897A | 公开（公告）日： | 2016-10-05 |
| 发明（设计）人： | 郭欣 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;梁丽超 |
| 地址： | 518057 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种同步动态随机存储器SDRAM的测试方法及装置，其中，所述方法包括：获取对SDRAM的指定存储空间进行测试的测试策略，其中，所述SDRAM与现场可编程门阵列FPGA连接；根据所述测试策略对所述指定存储空间进行测试。采用本发明提供的上述技术方案，解决了相关技术中，无法预知SDRAM芯片的内部存储空间出错的问题，完成了对SDRAM中各个存储空间的测试，方便相关工作人员的定位和调试工作，提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 同步 动态 随机 存储器 sdram 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种同步动态随机存储器SDRAM的测试方法，其特征在于，包括：获取对SDRAM的指定存储空间进行测试的测试策略，其中，所述SDRAM与现场可编程门阵列FPGA连接；根据所述测试策略对所述指定存储空间进行测试。
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