[发明专利]半导体元件测试用分选机

摘要

本发明涉及对于所生产的半导体元件进行测试时所使用的半导体元件测试用分选机。根据本发明的半导体元件测试用分选机以能够移动的方式具备供给用户托盘或收放用户托盘的堆叠器，并具备使堆叠器移动而能够选择堆叠器的位置的位置选择器。因此，适用了本发明的分选机通过有效地应用堆叠器，不仅在同一测试工序中能够连续处理物品数量多的半导体元件或能够连续处理不同批量的物品数量，而且防止设备的大型化或设计的复杂化，从而能够节省空间和生产成本，且能够带来节省人力并提高设备运转率的效果。

主权项

一种半导体元件测试用分选机，其特征在于，包括：测试支援部分，其取出位于取出位置的用户托盘中所装载的半导体元件并使该半导体元件与测试器电连接之后，将结束了通过测试器的测试的半导体元件放入位于放入位置的用户托盘；以及，用户托盘接送部分，其将装载有所要测试的半导体元件的用户托盘送至取出位置或将装载有测试结束的半导体元件的用户托盘从放入位置带回，从而有助于通过上述测试支援部分的动作的各半导体元件的移动顺利进行，上述用户托盘接送部分包括：多个供给堆叠器，其容纳所要送至取出位置的用户托盘；第一托盘移动器，其将装载于上述多个供给堆叠器的用户托盘送至取出位置；位置选择器，其使上述多个供给堆叠器移动而使上述多个供给堆叠器中一个供给堆叠器位于供给位置；至少一个收放堆叠器，其能够容纳位于放入位置的用户托盘；以及，至少一个第二托盘移动器，其将位于放入位置的用户托盘带至上述至少一个收放堆叠器。