[发明专利]降低小延迟缺陷过测试的热驱动可测试性设计结构与方法有效
| 申请号： | 201510043551.0 | 申请日： | 2015-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN104569790B | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 向东;神克乐 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种降低小延迟缺陷过测试的热驱动可测试性设计结构，包括n个扫描链组，其中，每个扫描链组包括k个子扫描链，k个子扫描链由电路中的每条原始扫描链划分得到；n个多路输出选择器DMUX，n个DMUX一一对应地设置在n个扫描输入端和n个扫描链组的输入端之间；n个第一多路复用器MUX，n个MUX一一对应地设置在n个扫描输出端和n个扫描链组的输出端之间；控制单元，用于控制n个扫描链组中的k个子扫描链依次进行测试。根据本发明实施例的降低小延迟缺陷过测试的热驱动可测试性设计结构可以有效降低小延迟缺陷过测试。 | ||
| 搜索关键词： | 降低 延迟 缺陷 测试 驱动 设计 结构 方法 | ||
【主权项】：
一种降低小延迟缺陷过测试的热驱动可测试性设计结构，其特征在于，包括：n个扫描链组，其中，每个扫描链组包括k个子扫描链，所述k个子扫描链由电路中的每条原始扫描链划分得到；n个多路输出选择器DMUX，所述n个多路输出选择器DMUX一一对应地设置在n个扫描输入端和所述n个扫描链组的输入端之间；n个第一多路复用器MUX，所述n个第一多路复用器MUX一一对应地设置在n个扫描输出端和所述n个扫描链组的输出端之间；以及控制单元，所述控制单元分别与所述n个扫描链组、所述n个多路输出选择器DMUX和所述n个第一多路复用器MUX相连，用于控制n个扫描链组中的k个子扫描链依次进行测试，同时，控制所述n个多路输出选择器DMUX将由n个扫描输入端接收的测试数据传输到相应的子扫描链，以及控制所述n个第一多路复用器MUX将相应的子扫描链的测试结果通过所述n个扫描输出端输出，并且所述控制单元包括：工作状态切换端口x、测试端口test、时钟信号输入端口clk、长度为k的寄存器和n个子控制单元，其中，所述n个子控制单元分别与所述工作状态切换端口x、测试端口test、时钟信号输入端口clk和所述寄存器相连，以根据工作状态切换信号、测试信号、时钟信号和所述寄存器的值控制n个扫描链组中的k个子扫描链依次进行测试，同时，控制所述n个多路输出选择器DMUX将由n个扫描输入端接收的测试数据传输到相应的子扫描链，以及控制所述n个第一多路复用器MUX将相应的子扫描链的测试结果通过所述n个扫描输出端输出。
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