[发明专利]高频太赫兹散射测试装置、测试方法以及分析方法

摘要

本发明涉及太赫兹的特性测试领域，具体涉及一种高频太赫兹散射测试装置、测试方法以及分析方法，该装置包括光学实验台、自动旋转光学平台、龙门架、运动控制器、太赫兹波源、透镜、探测器以及数据读取装置；自动旋转光学平台设置于所述光学实验台上，龙门架横跨所述自动旋转光学平台，龙门架上设置水平的滑轨，滑轨上连接一立式自动旋转台，立式自动旋转台上设置被测物；探测器、太赫兹波源设于光学实验台上相同或近似位置，形成收发合置的检测系统，探测器与所述数据读取装置电连接，透镜设置在所述太赫兹波源出射口，立式自动旋转台可调节方向。该装置简便、易安装、成本低；测试方法简便易行，数据误差小；散射结果对其市场运用提供很高的价值。

主权项

一种高频太赫兹散射测试装置，其特征在于：包括光学实验台(1)、自动旋转光学平台(2)、龙门架(3)、运动控制器(4)、太赫兹波源(5)、透镜(6)、探测器(10)以及数据读取装置(7)；所述自动旋转光学平台(2)设置于所述光学实验台(1)上，所述龙门架(3)横跨所述自动旋转光学平台(2)，所述龙门架(3)上设置水平的滑轨(8)，所述滑轨(8)上连接一立式自动旋转台(9)，所述立式自动旋转台(9)上设置被测物；所述探测器(10)、太赫兹波源(5)设于光学实验台(1)上相同或近似位置，形成收发合置的检测系统，所述探测器(10)与所述数据读取装置(7)电连接，所述透镜(6)设置在所述太赫兹波源(5)出射口，所述立式自动旋转台(9)可调节方向。