[发明专利]光学特性测量装置及光学特性测量方法有效
| 申请号： | 201480045838.0 | 申请日： | 2014-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN105473999B | 公开（公告）日： | 2018-01-19 |
| 发明（设计）人： | 小野修司 | 申请（专利权）人： | 富士胶片株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人： | 樊建中 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够减轻材料光学特性的测量负荷并在短时间内进行简便且高精度的测量的光学特性测量装置及光学特性测量方法。光学特性测量装置例如BRDF测量装置(11)具备对试料(16)照射光的光照射单元例如光源部(40)及点光源(42)及接收来自试料(16)的光的受光单元。受光单元具有包含多个受光体的受光传感器例如传感器阵列(26)及将来自试料(16)的光引导至受光传感器的导光部例如拍摄透镜(25)。导光部将来自试料(16)的光根据该光在试料(16)上的位置及行进方向引导至多个受光体中的不同的受光体。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 特性 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种光学特性测量装置，其具备对试料照射光的光照射单元及接收来自所述试料的光的受光单元，其中，所述受光单元具有包含多个受光体的受光传感器及将来自所述试料的光引导至受光传感器的导光部，所述导光部将来自所述试料的光根据该光在所述试料上的位置及行进方向引导至所述多个受光体中的不同的受光体，所述导光部具有第1导光体及包含多个导光透镜的第2导光体，所述第1导光体将来自所述试料的光根据该光在所述试料上的位置引导至所述多个导光透镜中的不同的导光透镜，所述多个导光透镜分别将经由所述第1导光体引导的光根据该光在所述试料上的位置及行进方向引导至所述多个受光体中的不同的受光体。
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