[发明专利]成像质量分析数据处理方法及成像质量分析装置有效
申请号: | 201480022771.9 | 申请日: | 2014-04-21 |
公开(公告)号: | CN105190303B | 公开(公告)日: | 2018-06-08 |
发明(设计)人: | 池上将弘 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62;H01J49/26 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人: | 徐乐乐 |
地址: | 日本京都府京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 预先将对各测量点的质谱进行了压缩的数据、以及用于XIC标准化等的标准化系数储存于存储器(21)。在显示特定的m/z值下的被标准化的成像图像的情况下,数据解压处理部(23)从存储器(21)读出最低限度必要的压缩数据并恢复与m/z值对应的各测量点的强度值的同时,标准化运算处理部(29)从存储器(21)读出与m/z值对应的XIC标准化系数,通过乘以各测量点的强度值来修正强度值。成像图像制作处理部(27)将各个规定的显示色赋予修正后的强度值,制作成像图像并将其显示于显示部(6)的画面上。由此,即使在变更标准化条件并依次显示成像图像的情况下,如果预先计算并存储标准化系数,就能够高速地显示图像。 | ||
搜索关键词: | 成像图像 标准化系数 存储器 测量点 标准化 成像 读出 修正 质量分析装置 标准化条件 运算处理部 数据解压 显示图像 依次显示 预先计算 质量分析 压缩 数据处理 显示色 质谱 制作 存储 变更 储存 赋予 恢复 | ||
【主权项】:
一种成像质量分析数据处理方法,其对成像质量分析数据进行处理,该成像质量分析数据是由通过对试样上的多个测量点分别执行质量分析而收集到的、作为离子强度值的一维排列的质谱数据与所述测量点的空间位置信息相关联而得到的,所述成像质量分析数据处理方法的特征在于,包括以下步骤:a)压缩步骤,按照规定的算法对各测量点的质谱数据执行压缩处理,并将得到的压缩数据储存到存储部的第一存储区域;b)标准化系数制作步骤,对于每个测量点计算标准化系数并将其结果储存到所述存储部的第二存储区域,所述标准化系数用于按照规定的基准将各测量点的质谱数据的强度值标准化;c)标准化质谱制作步骤,利用被储存于所述存储部的第一存储区域的与各测量点对应的强度值的压缩数据、被储存于该存储部的第二存储区域的各测量点的标准化系数、以及这些测量点的空间位置信息,来计算出所指定的或特定的多个测量点的标准化后的质谱的累计质谱、平均质谱、或者按每个质量电荷比提取出最大强度值的最大强度质谱中的至少一个,作为标准化质谱;以及d)标准化图像制作步骤,利用被储存于所述存储部的第一存储区域的与各测量点对应的强度值的压缩数据、被储存于该存储部的第二存储区域的各测量点的标准化系数、以及这些测量点的空间位置信息,来制作成像图像,其中,所述成像图像表示与所指定的或特定的质量电荷比或质量电荷比范围对应的标准化后的强度值的二维分布。
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