[发明专利]成像质量分析数据处理方法及成像质量分析装置

说明书

预先将对各测量点的质谱进行了压缩的数据、以及用于XIC标准化等的标准化系数储存于存储器(21)。在显示特定的m/z值下的被标准化的成像图像的情况下，数据解压处理部(23)从存储器(21)读出最低限度必要的压缩数据并恢复与m/z值对应的各测量点的强度值的同时，标准化运算处理部(29)从存储器(21)读出与m/z值对应的XIC标准化系数，通过乘以各测量点的强度值来修正强度值。成像图像制作处理部(27)将各个规定的显示色赋予修正后的强度值，制作成像图像并将其显示于显示部(6)的画面上。由此，即使在变更标准化条件并依次显示成像图像的情况下，如果预先计算并存储标准化系数，就能够高速地显示图像。

技术领域

本发明涉及适用于成像质量分析装置的数据处理方法以及使用了该数据处理方法的成像质量分析装置，该成像质量分析装置能够获取表示试样上的特定的质量电荷比或质量电荷比范围的离子的信号强度分布的成像图像。

背景技术

质量分析成像是通过对生物体组织切片等试样的二维区域内的多个测量点(微小区域)分别进行质量分析，来研究具有特定质量的物质的分布的方法，质量分析成像正不断应用于药物发现、生物标记探索、各种疾病、疾患的原因探明等。用于实施质量分析成像的质量分析装置一般被称为成像质量分析装置。另外，因为通常对试样上的任意的二维区域进行显微观察，并基于该显微观察图像来确定分析对象区域并执行该区域的成像质量分析，所以有时也称为显微质量分析装置、质量显微镜等，但在本说明书中决定称为“成像质量分析装置”。例如在非专利文献1、2中公开了一般的成像质量分析装置的结构、分析例。

在成像质量分析装置中，在试样上的二维区域内的多个测量点处分别获取规定的质量电荷比范围的质谱数据。为了实现高质量分辨率，通常利用飞行时间型质量分析器(TOFMS)来作为质量分析器，例如与由四极型质量分析装置等得到的质谱数据的数据量相比，每个测量点的质谱数据(或者飞行时间谱数据)的数据量变得相当多。另外，为了获得精确的成像图像(即提高空间分辨率)，需要缩小测量点的间隔，于是，针对一个试样的测量点的数量变多。因此，当想要进行高质量分辨率、高空间分辨率的质量分析成像时，每个试样的数据的总量变得庞大。

为了通过使用了一般的个人计算机的数据处理来制作、显示成像图像，或者对成像图像进行统计解析，就需要将处理对象的所有数据读入该计算机的主存储器(一般为RAM)。然而，在一般的个人计算机中能够实际使用的主存储器的存储容量有限，难以读入所有如上所述的高精细的成像质量分析数据。在这种情况下，需要根据能够读入主存储器的数据量的制约来限制能够制作、显示的成像图像的范围，或者进行以下处理：允许降低处理速度并将硬盘驱动器等外部存储装置的一部分用作虚拟的主存储器。

针对这样的问题，在专利文献1～3中公开了一种对由成像质量分析装置得到的质谱数据进行压缩并保存的技术。通过利用这种数据压缩技术，能够缩小作为处理对象的成像质量分析数据的数据量并读入主存储器。另外，在专利文献1所记载的方法中，预先制作将压缩前的原质谱数据的排列上的位置与压缩数据的排列上的位置相关联的索引，将该索引与压缩数据一起存储或者与压缩数据分开存储。而且，在需要读出与某个质量电荷比对应的数据(离子强度值)的情况下，通过参照索引信息，找出与目标数据对应的压缩数据并将其解码。通过这样做，能够一边进行数据压缩，一边迅速地获取目标数据。

可是，成像质量分析装置中通常利用的MALDI离子源虽然是适用于生物体试样的离子化法，但具有以下缺陷：每次测量(即每次照射激光)时的离子强度的偏差比较大。为了弥补这种缺陷，在获取对应于一个测量点的质谱时，将针对同一测量点执行的多次测量的离子强度信号进行累计。然而，有时即使进行这种累计也不能充分消除每个测量点的离子强度的偏差的影响。因此，即使根据按每个测量点得到的与特定的质量电荷比对应的离子强度值直接制作成像图像，也不一定正确地反映物质的分布。因此，以往提出了以下方案：在制作成像图像时，不直接使用各测量点的离子强度值，而使用按规定的基准进行标准化后的离子强度值。