[发明专利]用于光学测量到反射的或散射的目标物体的距离的设备在审
申请号: | 201480018079.9 | 申请日: | 2014-03-25 |
公开(公告)号: | CN105051568A | 公开(公告)日: | 2015-11-11 |
发明(设计)人: | A·温特;T·戈戈拉;P·艾里希 | 申请(专利权)人: | 喜利得股份公司 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01S7/481;G02B26/08 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 吕晨芳 |
地址: | 列支敦*** | 国省代码: | 列支敦士登;LI |
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摘要: | 用于光学测量到进行反射的或进行散射的目标物体的距离的设备(10),所述设备具有距离测量装置(11)以及设置在所述距离测量装置(11)外的调节装置(12),所述调节装置具有在第一位置和第二位置之间可调节的用于对激光射束进行射束整形的第二发射光学单元(17.1-17.6),其中,第二发射光学单元(17.1-17.6)在第一位置中设置在激光射束中且在第二位置中设置在激光射束外。 | ||
搜索关键词: | 用于 光学 测量 反射 散射 目标 物体 距离 设备 | ||
【主权项】:
用于光学测量到进行反射的或进行散射的目标物体(47)的距离的设备(10;60),所述设备包括距离测量装置(11;61),其中,所述距离测量装置(11;16)包括:■射束源(31),所述射束源构成为电子光学部件并且发射激光光束(41);■探测器(32),所述探测器构成为另一个电子光学部件并且接收在目标物体(47)上反射和/或散射的接收射束(42);以及■第一射束整形系统(33;63),所述第一射束整形系统具有用于对激光射束(41)进行射束整形的第一发射光学单元(35;64)以及用于对接收射束(42)进行射束整形的第一接收光学单元(36;65);其特征在于,设有在所述距离测量装置(11;16)外设置的调节装置(12;62;92),所述调节装置具有能在第一位置和第二位置之间调节的用于对激光射束(41)进行射束整形的第二发射光学单元(17.1‑17.6;48;73),其中,第二发射光学单元(17.1‑17.6;48;73)在第一位置中设置在激光射束(41)中且在第二位置中设置在激光射束(41)外。
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