[发明专利]用于分析关注实体特性的设备、系统以及方法有效

专利信息
申请号: 201480014842.0 申请日: 2014-03-14
公开(公告)号: CN105556512B 公开(公告)日: 2020-01-24
发明(设计)人: B·米歇尔斯;T·贝尔;T·什克洛夫斯基;M·拉冈;B·西马诺夫斯基 申请(专利权)人: 美国结构数据有限公司
主分类号: G06F16/23 分类号: G06F16/23;G06F16/31;G06Q10/10;G06Q50/00;H04W4/02;H04W4/021;H04W4/029;H04W4/50
代理公司: 11247 北京市中咨律师事务所 代理人: 杨晓光;于静
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开涉及用于分析关注实体特性的设备、系统和方法。特别地,本公开提供用于分析关于关注实体的信息,并且用于基于所分析的信息来对关注实体评级或评分的机构。关注实体的等级或分数有时可指关注实体的排名值。
搜索关键词: 用于 分析 关注 实体 特性 设备 系统 以及 方法
【主权项】:
1.一种用于处理与关注实体相关的信息的设备,包括:/n存储装置,其被配置成维护关于关注实体的信息,其中所述信息包括与所述关注实体相关联的内部数据、外部数据以及服务器日志,其中所述内部数据包括由内部数据库存储的元数据,所述外部数据为从外部数据库、因特网或应用编程接口访问到的数据;以及/n处理器,其与所述存储装置通信,并且被配置成运行一个或多个模块,所述一个或多个模块能够操作以使所述设备用于:/n检索关于所述关注实体的所述内部数据、所述外部数据以及所述服务器日志;/n基于所述内部数据、所述外部数据以及所述服务器日志,生成多个特征;以及/n基于所述多个特征计算所述关注实体的分数,其中所述分数指示所述关注实体的重要性。/n
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