[发明专利]用于处理结构的工艺有效

专利信息
申请号: 201480010335.X 申请日: 2014-02-25
公开(公告)号: CN105027263B 公开(公告)日: 2017-11-21
发明(设计)人: 奥列格·科农丘克 申请(专利权)人: 索泰克公司
主分类号: H01L21/268 分类号: H01L21/268;H01L21/302;H01L21/3065;H01L21/20
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 吕俊刚,刘久亮
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于处理结构的方法,所述结构从其后侧到其前侧包括载体基板(4)、绝缘层(3)和有用层(2),有用层(2)具有自由表面(S),所述结构放置在包含化学物种(6)的大气中,化学物种(6)能够与有用层(2)发生化学反应;该处理方法值得注意的是,由脉冲激光束(8)对有用层(2)进行加热,光束(8)扫过自由表面(S),光束(8)的波长与中心波长相差最多加上或者减去15nm,中心波长被选择为使得结构(1)的反射率相对于绝缘层(3)的灵敏度为零。
搜索关键词: 用于 处理 结构 工艺
【主权项】:
一种用于处理结构(1)的处理工艺,所述结构(1)从其后侧到其前侧包括载体基板(4)、绝缘层(3)和有用层(2),所述有用层(2)具有自由表面(S),所述结构(1)放置在包含气态形式的化学物种(6)的气氛中,所述化学物种(6)能够与所述有用层(2)发生化学反应,动力学随着所述有用层(2)的温度严格地增加;所述处理工艺的特征在于,由脉冲激光束(8)对所述有用层(2)进行加热,所述光束(8)至少部分地扫过所述有用层(2)的所述自由表面(S),所述光束(8)的波长与中心波长相差小于15nm,对于该波长,所述结构(1)的估计的反射率相对于所述绝缘层(3)的灵敏度为零。
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