[实用新型]用于高精度几何测量设备的多功能现场精度校验块有效
| 申请号： | 201420535716.7 | 申请日： | 2014-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN204188139U | 公开（公告）日： | 2015-03-04 |
| 发明（设计）人： | 刘晶;张拥军 | 申请（专利权）人： | 上海金艺检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01B11/26;G01B11/24 |
| 代理公司： | 上海天协和诚知识产权代理事务所 31216 | 代理人： | 沈国良 |
| 地址： | 201900 上海市宝山区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于高精度几何测量设备的多功能现场精度校验块，即本校验块为圆柱体，所述圆柱体中心设有通孔，所述圆柱体顶面设有与所述通孔同轴的沉孔，所述圆柱体底面的平面度为0.01mm，所述圆柱体中心轴与底面的垂直度为0.02，所述圆柱体中心轴与所述沉孔中心轴的同轴度0.02，所述圆柱体和沉孔的圆柱度为0.01mm。本校验块适用于生产现场对高精度几何测量设备的精度校验，提高测量设备的现场检测稳定性，确保实时检测精度满足要求。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 高精度 几何 测量 设备 多功能 现场 精度 校验 | ||
【主权项】：
一种用于高精度几何测量设备的多功能现场精度校验块，其特征在于：所述校验块为圆柱体，所述圆柱体中心设有通孔，所述圆柱体顶面设有与所述通孔同轴的沉孔，所述圆柱体底面的平面度为0.01mm，所述圆柱体中心轴与底面的垂直度为0.02，所述圆柱体中心轴与所述沉孔中心轴的同轴度0.02，所述圆柱体和沉孔的圆柱度为0.01mm。
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