[实用新型]闪存芯片测试架有效

专利信息
申请号: 201420498131.2 申请日: 2014-08-29
公开(公告)号: CN204102121U 公开(公告)日: 2015-01-14
发明(设计)人: 陈任佳;陈海 申请(专利权)人: 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
主分类号: G06F12/02 分类号: G06F12/02
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 谢志为
地址: 518108 广东省深圳市龙岗*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种闪存芯片测试架,包括一第一测试板及一第二测试板,第一测试板与第二测试板上均装设有若干排插接座及若干开关,每一开关与一对应的插接座电连接,每一个插接座上插接有一测试座,每一测试座上能够安装一闪存芯片,第一测试板的一侧与第二测试板的一侧均装设有若干电源接口与若干USB接口,每一电源接口能够与一外部电源线相连以给对应的一排插接座供电,每一USB接口能够向外传输对应的一排插接座上的测试座上的闪存芯片的测试数据,该第一测试板与第二测试板的电源接口及USB接口均朝向同一方向,该第二测试板的高度与该第一测试板的高度不同,使得连接于第一测试板与第二测试板的线缆可以分隔开,方便操作与整理。
搜索关键词: 闪存 芯片 测试
【主权项】:
一种闪存芯片测试架,其特征在于:所述闪存芯片测试架包括一第一测试板及一第二测试板,第一测试板与第二测试板上均装设有若干排插接座,每一排插接座包括若干个插接座,每一个插接座上插接有一测试座,每一测试座上能够安装一闪存芯片,第一测试板的一侧与第二测试板的一侧均装设有若干电源接口与若干USB接口,每一电源接口能够与一外部电源线相连以给对应的一排插接座供电,每一USB接口能够向外传输对应的一排插接座上的测试座上的闪存芯片的测试数据,第一测试板与第二测试板上均装设有若干个开关,每一开关与一对应的插接座电连接,用以控制对应的插接座上的测试座的通电与断电,该第一测试板与第二测试板的电源接口及USB接口均朝向同一方向,该第二测试板的高度与该第一测试板的高度不同。
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