[实用新型]闪存芯片测试架

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种闪存芯片的测试架。 

背景技术

现有技术只能对闪存芯片一个一个或少数几个同时进行测试，不能对较大数量的闪存芯片同时进行测试。 

实用新型内容

鉴于以上，有必要提供一种能够同时对多个闪存芯片同时进行测试的闪存芯片测试架。 

一种闪存芯片测试架，包括一第一测试板及一第二测试板，第一测试板与第二测试板上均装设有若干排插接座，每一排插接座包括若干个插接座，每一个插接座上插接有一测试座，每一测试座上能够安装一闪存芯片，第一测试板的一侧与第二测试板的一侧均装设有若干电源接口与若干USB接口，每一电源接口能够与一外部电源线相连以给对应的一排插接座供电，每一USB接口能够向外传输对应的一排插接座上的测试座上的闪存芯片的测试数据，第一测试板与第二测试板上均装设有若干个开关，每一开关与一对应的插接座电连接，用以控制对应的插接座上的测试座的通电与断电，该第一测试板与第二测试板的电源接口及USB接口均朝向同一方向，该第二测试板的高度与该第一测试板的高度不同。 

优选地，所有 USB接口通过数据线连接于一电脑。 

优选地，该第一测试板远离第二测试板的一侧的两端的底部分别连接有一第一支撑脚，该第二测试板的底部于四角处分别连接有一第二支撑脚，第二支撑脚的高度大于第一支撑脚的高度，第二测试板靠近第一测试板的一侧的两第二支撑脚穿过并固定于该第一测试板，使第一测试板的电源接口及USB接口位于第二测试板的下方。 

优选地，每一第二支撑脚包括一第一支撑柱、连接于第二测试板的底部并滑动地收容于第一支撑柱的一第二支撑柱及一螺丝，每一螺丝穿过对应的第一支撑柱并顶紧对应的第二支撑柱以将第二支撑柱固定，第二测试板靠近第一测试板的一侧的两第二支撑柱穿过并固定于该第一测试板。 

优选地，每一第一支撑脚与每一第一支撑柱的底部均装设有一吸盘。 

优选地，每一第一支撑柱的顶部沿轴向向下设有一滑槽，对应的第二支撑柱的底部能够滑动地收容于该滑槽内，每一第一支撑柱的侧壁设有一螺孔，螺丝穿过第一支撑柱的螺孔后能够顶紧对应的第二支撑柱，将第二支撑柱锁固。 

该闪存芯片测试架可同时测试多个闪存芯片，第一测试板与第二测试板位于不同的高度，使得连接于第一测试板与第二测试板的线缆可以分隔开，不会杂乱的混在一起，方便操作与整理。 

附图说明

图1是本实用新型闪存芯片测试架的较佳实施方式的立体图。 

图2是图1中II部分的放大图。