[实用新型]一种测量法拉第效应和磁光调制的综合实验装置有效
申请号: | 201420286237.6 | 申请日: | 2014-06-02 |
公开(公告)号: | CN203931304U | 公开(公告)日: | 2014-11-05 |
发明(设计)人: | 陈希江;时晨 | 申请(专利权)人: | 上海复旦天欣科教仪器有限公司 |
主分类号: | G09B23/22 | 分类号: | G09B23/22 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 200433 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型属于教学实验仪器技术领域,具体为一种测量法拉第效应和磁光调制的综合实验装置。本实用新型包括半导体激光器、起偏器、会聚透镜、电磁铁、调制器、检偏测角器、探测器、电磁铁直流电源、信号源主机以及示波器。本装置通过正弦波调制和方波调制两种方式,并选用选频放大器进行探测信号处理,可以准确的确定倍频调制点,从而准确测量实验样品的菲尔德常数;电磁铁装置采用磁极中心打孔并且磁头间隙可调的方式,对不同样品可以采用不同的磁场间隙,同时可以激光从磁极中心穿过,方便测量法拉第效应;检偏测角器采用角位移转换成直线位移的方法,可提高测量精度,增加仪器的实验内容。该实验装置可以用于高等院校近代物理实验和设计性研究性实验。 | ||
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【主权项】:
一种测量法拉第效应和磁光调制的综合实验装置,其特征在于包括半导体激光器、起偏器、会聚透镜、电磁铁、调制器、检偏测角器、探测器、电磁铁直流电源、信号源主机、示波器、选频放大器主机,其中:所述半导体激光器出射单色光,通过起偏器起偏和会聚透镜调焦,再穿过电磁铁的两个磁极和磁极中心的实验样品,后面经过调制器和检偏测角器,最后被探测器接收;电磁铁由直流电源加可调节直流来调节磁场,调制器通过信号源主机加正弦波或者方波进行调制,探测器接入选频放大器主机进行后期信号处理,通过示波器测量倍频信号,可以测量实验样品的法拉第效应,去掉样品可以完成磁光调制的相关实验。
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