[实用新型]具散热模块的堆栈封装构造测试装置有效

专利信息
申请号: 201420129053.9 申请日: 2014-03-20
公开(公告)号: CN203870213U 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 陈建名 申请(专利权)人: 致茂电子(苏州)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;H01L23/367
代理公司: 上海宏威知识产权代理有限公司 31250 代理人: 金利琴
地址: 215011 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型有关于一种具散热模块的堆栈封装构造测试装置,主要包括上顶盖、下底座、散热模块、以及若干探针。其中,下底座组设于上顶盖的下方并构成一内部容置空间,其用以容置上层芯片;另外,散热模块包括散热鳍片,其容设于内部容置空间内并贴附上层芯片的上表面;此外,若干探针组设于下底座,而若干探针电性连接上层芯片及下层芯片。据此,本实用新型由在上顶盖与下底座之内部容置空间内设置一散热鳍片,而可对上层芯片进行散热,而大幅排除上层芯片运作时所产生的热能,进而提高上层芯片的运作效率、以及使用寿命。
搜索关键词: 散热 模块 堆栈 封装 构造 测试 装置
【主权项】:
一种具散热模块的堆栈封装构造测试装置,其特征在于,包括: 一上顶盖; 一下底座,其组设于该上顶盖的下方,该上顶盖与该下底座构成一内部容置空间,其用以容置一上层芯片; 一散热模块,其包括一散热鳍片,该散热鳍片容设于该内部容置空间内并贴附该上层芯片的上表面;以及 若干探针,其组设于该下底座,该若干探针电性连接该上层芯片及一下层芯片。 
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