[实用新型]一种纳米氧化铝基银膜石英晶体微天平传感器有效
| 申请号： | 201420090687.8 | 申请日： | 2014-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN203705024U | 公开（公告）日： | 2014-07-09 |
| 发明（设计）人： | 曹忠;黄大凯;李盼盼;李婷;刘刚;曹婷婷 | 申请（专利权）人： | 长沙理工大学 |
| 主分类号： | G01G3/16 | 分类号： | G01G3/16;G01N5/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 410004 湖南省长沙市雨花区万家*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种纳米氧化铝基银膜石英晶体微天平传感器，该传感器包括一个石英晶体片(1)，所述石英晶体片(1)基底是镀铝膜层(2)，所述镀铝膜层(2)表面是纳米三氧化二铝膜层(3)，所述纳米三氧化二铝膜层(3)表面是镀银膜层(4)，形成一种基于纳米氧化铝基银膜的石英晶体微天平传感器。其中，纳米三氧化二铝的形状为球形，纳米三氧化二铝的粒径为1~50nm。本实用新型的效果和益处在于所述纳米氧化铝基银膜石英晶体微天平传感器具有制作简单、成本低廉、灵敏度高、抗腐蚀性和稳定性好等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 氧化铝 基银膜 石英 晶体 天平 传感器 | ||
【主权项】：
一种纳米氧化铝基银膜石英晶体微天平传感器，其特征是：该传感器包括一个石英晶体片(1)，所述石英晶体片(1)基底是镀铝膜层(2)，所述镀铝膜层(2)表面是纳米三氧化二铝膜层(3)，所述纳米三氧化二铝膜层(3)表面是镀银膜层(4)，形成一种基于纳米氧化铝基银膜的石英晶体微天平传感器。
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- 康会峰;黄新春;张瑾;王云;樊浩柏;王俊华 - 北华航天工业学院
- 2013-09-11 - 2013-12-18 - G01G3/16
- 本发明涉及用于太空环境使用的物体质量测量设备技术领域的一种太空质量测量仪。包括底座，底座两侧设置有支架，其特点是所述的底座两侧支架上设置有滑杆，托盘两端套设在滑杆上，托盘两端边缘下部设置有第二弹簧，电磁铁安装在底座上表面，电磁铁与设置在底座内的电路及显示模块相连，第二制动杆一端通过转轴安装在底座内，第二制动杆另一端伸出底座外部并通过第一弹簧与底座相连，第一连接杆一端固定在转轴上，第一连接杆与第一制动杆相连，第一制动杆与第二连接杆相连，第二连接杆安装在支架上。其采用了机械结构与电路相结合，能够很好的实现在太空环境中称实验中物品的质量，且该设备具有较高的精度，该系统结构简单，稳定可靠，扩展方便。
- 一种钛基铂膜微天平传感器-201320232818.7
- 曹忠;曹婷婷;吴玲;黄大凯;宋天铭;肖忠良 - 长沙理工大学
- 2013-05-03 - 2013-09-18 - G01G3/16
- 本实用新型提供了一种钛基铂膜微天平传感器，该传感器包括一个石英晶体片(1)，所述石英晶体片(1)表面是镀钛膜层(2)，所述镀钛膜层(2)表面是镀铂膜层(3)，形成一种钛基铂膜微天平传感器。本实用新型的效果和益处在于所述钛基铂膜微天平传感器具有制作简单、使用方便、灵敏度高、抗腐蚀性和稳定性好等优点，优于传统的石英晶体微天平传感器。
- 基于微振荡法测量颗粒物质量的装置-201310128642.5
- 朱辉;程平;周振 - 昆山禾信质谱技术有限公司
- 2013-04-12 - 2013-07-17 - G01G3/16
- 本发明提供一种基于微振荡法测量颗粒物质量的装置其包括：振荡器，所述振荡器上滤膜托盘，所述滤膜托盘上设有允许气流通过的滤膜；驱动单元，所述驱动单元驱动所述振荡器振动；频率检测单元，所述频率检测单元包括光源、反光面和光线监测装置，所述反光面位于所述滤膜托盘上，所述反光面将所述光源发出的平行光反射在所述光线监测装置上，所述光线监测装置用于检测所述反光面上反射光的振动频率和平衡点位置。该测量颗粒物质量的装置通过检测反射光的振荡频率来确定振荡器的频率，这样可有效避免电信号等外界干扰对测量结果的影响，而且利用反射面可有效地放大振荡，使测量结果更加的精确。
- 专利分类
