[实用新型]封装晶体管引脚成型检测装置有效
| 申请号： | 201420024064.0 | 申请日： | 2014-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN203687830U | 公开（公告）日： | 2014-07-02 |
| 发明（设计）人： | 林光华;张华洪;彭奕祥 | 申请（专利权）人： | 汕头华汕电子器件有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/02 | 分类号： | G01B5/02;G01B5/30;H01L21/67 |
| 代理公司： | 汕头市南粤专利商标事务所(特殊普通合伙) 44301 | 代理人： | 林逸平 |
| 地址： | 515000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种封装晶体管引脚成型检测装置，包括底座，底座上设有一可供封装产品来回滑行测量的轨道，轨道上方设置有左右对称的测量口，测量口呈阶梯状，包括上限测量口、下限测量口以及非限定测量口。上限测量口的高度等于管脚长度的标准上限，下限测量口的高度等于管脚长度的标准下限；工作时，将产品放在轨道上，人工向左或向右水平移动产品，如果管脚长度大于上限测量口，或者管脚长度小于下限测量口，则表明管脚长度超出产品标准范围，即可判为不合格。本实用新型具有检测速度快、精度高、操作简便等特点，极大地提升了管脚变形的检测效率和质量。 | ||
| 搜索关键词： | 封装 晶体管 引脚 成型 检测 装置 | ||
【主权项】：
封装晶体管引脚成型检测装置，包括底座（1），其特征在于：底座（1）上设有一可供封装产品（6）来回滑行测量的轨道（2），轨道（2）上方设置有左右对称的测量口，测量口呈阶梯状，包括上限测量口（3）、下限测量口（4）以及非限定测量口（5）。
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