[发明专利]基于稀疏测量的综合孔径辐射计遥感成像的方法和系统有效
| 申请号： | 201410855723.X | 申请日： | 2014-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN104569976B | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | 李达 | 申请（专利权）人： | 武汉理工大学 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 许美红 |
| 地址： | 430070 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于稀疏测量的综合孔径辐射计遥感成像的方法和系统，其中方法包括步骤：建立稀疏变换基库，该稀疏变换基库包括多个基函数，根据该稀疏变换基库对原始微波辐射场分布进行稀疏表示；对综合孔径微波辐射计的基线进行测量权重建模并压缩抽取，得到抽取的基线；以及根据原始微波辐射场分布的稀疏表示及抽取的基线，使用基于稀疏重构的图像反演方法来得到场景亮温分布图像。 | ||
| 搜索关键词： | 稀疏变换 基线 基库 综合孔径辐射计 抽取 微波辐射场 稀疏表示 遥感成像 测量 稀疏 综合孔径微波辐射计 分布图像 稀疏重构 基函数 重建模 反演 亮温 图像 场景 压缩 | ||
【主权项】：
一种基于稀疏测量的综合孔径辐射计遥感成像的方法，其特征在于，包括以下步骤：建立稀疏变换基库，该稀疏变换基库包括多个基函数，根据该稀疏变换基库对原始微波辐射场分布进行稀疏表示；对综合孔径微波辐射计的基线进行测量权重建模并压缩抽取，得到抽取的基线；以及根据原始微波辐射场分布的稀疏表示及抽取的基线，使用基于稀疏重构的图像反演方法来得到场景亮温分布图像，其中，步骤“对综合孔径微波辐射计的基线进行测量权重建模并压缩抽取”进一步包括：将完整基线从小到大分割成预定数目的分段；以及按照预定抽取比重对所述预定数目的分段均匀随机抽取基线；所述预定数目是三，并且所述预定抽取比重是3:1:2，所抽取的基线的数量保持在原有完整基线40%‑60%。
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