[发明专利]BIST的测试电路和测试方法

摘要

本发明实施例提供一种BIST的测试电路和测试方法，该测试电路包括：待测试电路、驱动电路、处理电路和计算电路；待测试电路的输入端与驱动电路的输出端连接；待测试电路的输出端与处理电路的输入端连接；处理电路的输出端与计算电路的输入端连接；所述驱动电路用于驱动所述待测试电路；所述处理电路用于消除所述待测试电路发送的数字信号的直流失调，并对消除直流失调后的所述数字信号进行滤波和陷波处理，获取测试信号和有效噪声信号；所述计算电路用于根据所述测试信号和所述有效噪声信号计算获取所述待测试电路的性能指标。通过内部集成处理电路和计算电路，直接获取需要的待测试电路的性能指标，有效提高测试待测试电路的效率。

主权项

1.一种BIST的测试电路，其特征在于，包括：待测试电路、驱动电路、处理电路和计算电路；所述待测试电路的输入端与所述驱动电路的输出端连接；所述待测试电路的输出端与所述处理电路的输入端连接；所述处理电路的输出端与所述计算电路的输入端连接；所述驱动电路用于驱动所述待测试电路；所述处理电路用于消除所述待测试电路发送的数字信号的直流失调，并对消除直流失调后的所述数字信号进行滤波和陷波处理，获取测试信号和有效噪声信号；所述计算电路用于根据所述测试信号和所述有效噪声信号计算获取所述待测试电路的性能指标；所述待测试电路包括至少一个ADC电路和至少一个DAC电路；所述驱动电路包括数字信号发生器电路和时钟电路；所述时钟电路的输出端分别与所述ADC电路的驱动端和所述DAC电路的驱动端连接；所述ADC电路的输入端与所述DAC电路的输出端连接；所述数字信号发生电路的输出端与所述DAC电路的输入端连接；所述处理电路包括直流检测消除电路、滤波电路和陷波电路；所述计算电路包括信号功率计算电路、噪声功率计算电路和测试结果计算电路；所述ADC电路的输出端与所述直流检测消除电路的输入端连接；所述直流检测消除电路的输出端分别与所述滤波电路的输入端和测试结果计算电路的输入端连接；所述滤波电路的输出端分别与所述陷波电路的输入端和所述信号功率计算电路的输入端连接；所述陷波电路的输出端与所述噪声功率计算电路的输入端连接；所述测试结果计算电路的输入端分别与所述信号功率计算电路的输出端和所述噪声功率计算电路的输出端连接；所述直流检测消除电路用于消除所述数字信号的直流失调，所述滤波电路用于对消除直流失调之后的所述数字信号进行滤波处理，滤除所述数字信号中的无效噪声，获取所述测试信号；所述陷波电路用于对所述测试信号进行陷波处理，获取所述有效噪声信号。