[发明专利]薄膜晶体管及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201410830699.4 申请日: 2014-12-26
公开(公告)号: CN105789319B 公开(公告)日: 2020-05-01
发明(设计)人: 赵加湘 申请(专利权)人: 昆山国显光电有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提出了一种薄膜晶体管及其制备方法,在有源层上形成栅极绝缘层,且栅极绝缘层暴露出有源层的两端,用于形成源/漏极,接着,在栅极绝缘层上形成金属栅极,且金属栅极暴露出栅极绝缘层的两端,借助金属栅极和栅极绝缘层的遮挡作用,在栅极绝缘层暴露出的两端下方的有源层内形成LDD区,通过一次工艺即可同时形成源/漏极和LDD区,减少工艺步骤,降低生产成本。此外,在形成金属栅极的同时,还在有源层两端及缓冲层表面形成金属源漏连线,金属源漏连线与后续形成的源/漏极分别相连,在后续刻蚀形成第一通孔时,刻蚀暴露出的是金属源漏连线,而非常规的源/漏极,可防止对源/漏极进行刻蚀的过程中造成的电性能恶化,能够确保薄膜晶体管的性能。
搜索关键词: 薄膜晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
一种薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,包括步骤:提供衬底,在所述衬底上依次形成缓冲层及有源层;在所述有源层上形成栅极绝缘层,所述栅极绝缘层暴露出所述有源层的两端,所述有源层暴露出的两端用于形成源/漏极;在所述栅极绝缘层上形成金属栅极,所述金属栅极暴露出所述栅极绝缘层的两端,所述栅极绝缘层暴露出的两端下方的有源层内用于形成LDD区;进行离子注入,在所述有源层暴露出的两端形成源/漏极,在所述栅极绝缘层暴露出的两端下方的有源层内形成LDD区。
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